Capability of detection—Part 5: Methodology in the linear and nonlinear calibration cases
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| SJ/T 10775-2013 | 电子元器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器RJ14型金属膜固定电阻器 评定水平E | 现行 | 2013-10-17 | 2013-12-01 |
| SJ/T 11113-2013 | 电子元器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器RJ13型金属膜固定电阻器 评定水平E | 现行 | 2013-10-17 | 2013-12-01 |
| SJ/T 10774-2000 | 电子元器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器RT14型碳膜固定电阻器 评定水平E | 废止 | 2000-08-16 | 2000-10-01 |
| SJ/T 10775-2000 | 电子元器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器RJ14型金属膜固定电阻器 评定水平E | 废止 | 2000-08-16 | 2000-10-01 |
| SJ/T 11113-1999 | 电子元器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器RJ13型金属膜固定电阻器 评定水平E | 废止 | 1999-08-26 | 1999-12-01 |
| YD/T 2869.2-2024 | 终端MIMO天线性能要求和测量方法 第2部分：5G终端（6GHz以下频段） | 现行 | 2024-07-05 | 2024-10-01 |
| GB/T 17550.4-2000 | 识别卡 光记忆卡 线性记录方法 第4部分:逻辑数据结构 | 现行 | 2000-01-03 | 2000-08-01 |
| GB/T 18500.2-2001 | 半导体器件 集成电路 第4部分:接口集成电路 第二篇:线性模拟/数字转换器(ADC)空白详细规范 | 现行 | 2001-11-05 | 2002-06-01 |
| GB/T 18500.1-2001 | 半导体器件 集成电路 第4部分:接口集成电路 第一篇:线性数字/模拟转换器(DAC)空白详细规范 | 现行 | 2001-11-05 | 2002-06-01 |
| GB/T 36800.2-2018 | 塑料 热机械分析法(TMA) 第2部分：线性热膨胀系数和玻璃化转变温度的测定 | 现行 | 2018-09-17 | 2019-04-01 |
| GB/T 16857.2-2017 | 产品几何技术规范（GPS） 坐标测量机的验收检测和复检检测 第2部分: 用于测量线性尺寸的坐标测量机 | 现行 | 2017-11-01 | 2018-05-01 |
| GB/T 6495.10-2012 | 光伏器件 第10部分：线性特性测量方法 | 废止 | 2012-12-31 | 2013-06-01 |
| GB/T 18400.4-2010 | 加工中心检验条件 第4部分：线性和回转轴线的定位精度和重复定位精度检验 | 现行 | 2010-11-10 | 2011-03-01 |
| GB/T 20957.4-2007 | 精密加工中心检验条件 第4部分：线性和回转轴线的定位精度和重复定位精度检验 | 现行 | 2007-07-26 | 2007-12-01 |
| GB/T 16462.4-2007 | 数控车床和车削中心检验条件 第4部分：线性和回转轴线的定位精度及重复定位精度检验 | 现行 | 2007-07-26 | 2007-12-01 |
| YD/T 2869.1-2021 | 终端MIMO天线性能要求和测量方法 第1部分：LTE无线终端 | 现行 | 2021-08-21 | 2021-11-01 |
| GB/T 18778.2-2003 | 产品几何量技术规范(GPS) 表面结构 轮廓法 具有复合加工特征的表面 第2部分: 用线性化的支承率曲线表征高度特性 | 现行 | 2003-04-15 | 2003-11-01 |
| GB/Z 26958.22-2011 | 产品几何技术规范（GPS） 滤波 第22部分：线性轮廓滤波器 样条滤波器 | 现行 | 2011-07-19 |