Surface chemical analysis—Depth profiling—Methods for ion beam alignment and the associated measurement of current or current density for depth profiling in AES and XPS
废止
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 32998-2016 | 表面化学分析 俄歇电子能谱 荷电控制与校正方法报告的规范要求 | 现行 | 2016-10-13 | 2017-09-01 |
| GB/T 32565-2016 | 表面化学分析 俄歇电子能谱（AES）数据记录与报告的规范要求 | 现行 | 2016-02-24 | 2017-01-01 |
| GB/T 32996-2025 | 表面化学分析 辉光放电发射光谱法分析金属氧化物膜 | 现行 | 2025-06-30 | 2026-01-01 |
| GB/T 45769-2025 | 表面化学分析 X射线光电子能谱 均匀材料中元素检测限的评估和报告 | 现行 | 2025-06-30 | 2026-01-01 |
| GB/Z 32490-2016 | 表面化学分析 X射线光电子能谱 确定本底的程序 | 现行 | 2016-02-24 | |
| GB/T 45773-2025 | 表面化学分析 X射线光电子能谱全扫描谱的准实时信息 含碳化合物表面污染的识别和校正规则 | 现行 | 2025-06-30 | 2026-01-01 |
| GB/T 41072-2021 | 表面化学分析 电子能谱 紫外光电子能谱分析指南 | 现行 | 2021-12-31 | 2022-04-01 |
| GB/T 38114-2019 | 纳米技术 石墨烯材料表面含氧官能团的定量分析化学滴定法 | 现行 | 2019-10-18 | 2020-09-01 |
| GB/T 40128-2021 | 表面化学分析 原子力显微术 二硫化钼片层材料厚度测量方法 | 现行 | 2021-05-21 | 2021-12-01 |
| T/CSTM 01193-2024 | 酸化碳纳米管 表面元素及化学态分析方法 X射线光电子能谱 | 现行 | 2024-01-05 | 2024-04-05 |
| T/CNEA 249.8-2024 | 核工业用锆及锆合金化学分析方法 第8部分：表面氟含量的测定 分光光度法 | 现行 | 2024-12-04 | 2025-02-02 |
| T/GAIA 033-2025 | 表面化学分析 扫描探针显微镜数据储存格式 | 现行 | 2025-05-28 | 2025-06-04 |
| GB/T 19502-2004 | 表面化学分析 辉光放电发射光谱方法通则 | 废止 | 2004-04-30 | 2004-12-01 |
| GB/T 22461-2008 | 表面化学分析 词汇 | 废止 | 2008-10-30 | 2009-06-01 |
| GB/T 22571-2008 | 表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标尺的校准 | 废止 | 2008-12-11 | 2009-10-01 |
| GB/T 6609.35-2009 | 氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第35部分：比表面积的测定 氮吸附法 | 废止 | 2009-04-15 | 2010-02-01 |
| GB/T 25187-2010 | 表面化学分析 俄歇电子能谱 - 选择仪器性能参数的表述 | 废止 | 2010-09-26 | 2011-08-01 |
| GB/T 28893-2012 | 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 测定峰强度的方法和报告结果所需的信息 | 废止 | 2012-11-05 | 2013-06-01 |