Surface chemical analysis—Depth profiling—Methods for ion beam alignment and the associated measurement of current or current density for depth profiling in AES and XPS
废止
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 21007-2007 | 表面化学分析 信息格式 | 现行 | 2007-07-31 | 2008-03-01 |
| GB/T 21006-2007 | 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标的线性 | 现行 | 2007-07-31 | 2008-03-01 |
| GB/T 30815-2014 | 表面化学分析分析样品的制备和安装方法指南 | 现行 | 2014-05-06 | 2015-02-01 |
| GB/T 30701-2014 | 表面化学分析 硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定 | 现行 | 2014-03-27 | 2014-12-01 |
| GB/T 30704-2014 | 表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南 | 现行 | 2014-03-27 | 2014-12-01 |
| GB/T 30702-2014 | 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 实验测定的相对灵敏度因子在均匀材料定量分析中的使用指南 | 现行 | 2014-03-27 | 2014-12-01 |
| GB/T 29731-2013 | 表面化学分析 高分辨俄歇电子能谱仪 元素和化学态分析用能量标校准 | 现行 | 2013-09-18 | 2014-06-01 |
| GB/T 28894-2012 | 表面化学分析分析前样品的处理 | 现行 | 2012-11-05 | 2013-06-01 |
| GB/T 28893-2024 | 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 测定峰强度的方法和报告结果所需的信息 | 现行 | 2024-03-15 | 2024-10-01 |
| GB/T 43661-2024 | 表面化学分析 扫描探针显微术 用于二维掺杂物成像等用途的电扫描探针显微镜（ESPM，如SSRM和SCM）空间分辨的定义和校准 | 现行 | 2024-03-15 | 2024-10-01 |
| GB/T 19502-2023 | 表面化学分析 辉光放电发射光谱方法通则 | 现行 | 2023-12-28 | 2024-07-01 |
| GB/T 28892-2024 | 表面化学分析 X射线光电子能谱 选择仪器性能参数的表述 | 现行 | 2024-03-15 | 2024-07-01 |
| GB/T 6609.35-2023 | 氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第35部分：比表面积的测定 氮吸附法 | 现行 | 2023-08-06 | 2024-03-01 |
| GB/T 22461.1-2023 | 表面化学分析 词汇 第1部分：通用术语及谱学术语 | 现行 | 2023-08-06 | 2024-03-01 |
| GB/T 42658.4-2023 | 表面化学分析 样品处理、制备和安装指南 第4部分: 报告表面分析前纳米物体相关的来历、制备、处理和安装信息 | 现行 | 2023-08-06 | 2024-03-01 |
| GB/T 42659-2023 | 表面化学分析 扫描探针显微术 采用扫描探针显微镜测定几何量：测量系统校准 | 现行 | 2023-08-06 | 2024-03-01 |
| GB/T 42360-2023 | 表面化学分析 水的全反射X射线荧光光谱分析 | 现行 | 2023-03-17 | 2023-07-01 |
| GB/T 41073-2021 | 表面化学分析 电子能谱 X射线光电子能谱峰拟合报告的基本要求 | 现行 | 2021-12-31 | 2022-07-01 |