Photodiodes for scintillation detectors - Test procedures
现行
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 20871.62-2025 | 有机发光二极管显示器件 第6-2部分：测试方法 视觉质量和亮室性能 | 现行 | 2025-05-30 | 2025-12-01 |
| SJ/T 11845.3-2022 | 基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第3部分：二极管 | 现行 | 2022-10-20 | 2023-01-01 |
| SJ/T 10031-1991 | 电流调整二极管详细规范 | 现行 | 1991-04-08 | 1991-07-01 |
| SJ/T 11767-2020 | 二极管低频噪声参数测试方法 | 现行 | 2020-12-09 | 2021-04-01 |
| SJ/T 11868-2022 | 硅衬底蓝光功率发光二极管芯片详细规范 | 现行 | 2022-10-20 | 2023-01-01 |
| SJ/T 11867-2022 | 硅衬底蓝光小功率发光二极管详细规范 | 现行 | 2022-10-20 | 2023-01-01 |
| SJ/T 11869-2022 | 硅衬底白光功率发光二极管芯片详细规范 | 现行 | 2022-10-20 | 2023-01-01 |
| SJ/T 10062-1991 | 2K4型硅微带PIN开关二极管 | 现行 | 1991-04-08 | 1991-07-01 |
| SJ/T 10063-1991 | BT62型硅PIN开关二极管 | 现行 | 1991-04-08 | 1991-07-01 |
| SJ/T 11818.1-2022 | 半导体紫外发射二极管 第1部分：测试方法 | 现行 | 2022-10-20 | 2023-01-01 |
| SJ/T 11818.3-2022 | 半导体紫外发射二极管 第3部分：器件规范 | 现行 | 2022-10-20 | 2023-01-01 |
| SJ/T 11818.2-2022 | 半导体紫外发射二极管 第2部分：芯片规范 | 现行 | 2022-10-20 | 2023-01-01 |
| SJ/T 11880-2022 | 发光二极管制造业绿色工厂评价要求 | 现行 | 2022-10-20 | 2023-01-01 |
| SJ/T 10061-1991 | 2CV3型硅肖特基势垒混频二极管 | 现行 | 1991-04-08 | 1991-07-01 |
| GB/T 39771.2-2021 | 半导体发光二极管光辐射安全 第2部分：测试方法 | 现行 | 2021-03-09 | 2021-10-01 |
| GB/T 45543-2025 | 有机发光二极管显示器件用基板玻璃 | 现行 | 2025-03-28 | 2025-10-01 |
| GB/T 38621-2020 | 发光二极管模块热特性瞬态测试方法 | 现行 | 2020-04-28 | 2020-11-01 |
| DB35/T 2107-2022 | 紫外发光二极管测评方法 | 现行 | 2022-12-27 | 2023-03-27 |