Electromagnetic compatibility—Limits—Limits for harmonic currents produced by equipment connected to public low—Voltage systems with input current >16 A and <=75 A per phase
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 17625.8-2015 | 电磁兼容限值 每相输入电流大于16A小于等于75A连接到公用低压系统的设备产生的谐波电流限值 | 废止 | 2016-04-01 | 相似 |
| GB/T 17625.8-2025 | 电磁兼容限值 第8部分：每相输入电流大于16A小于或等于75A连接到公用低压系统的设备产生的谐波电流限值 | 即将实施 | 2026-07-01 | —— |
| GB/Z 17625.3-2000 | 电磁兼容限值 对额定电流大于16 A的设备在低压供电系统中产生的电压波动和闪烁的限制 | 现行 | 相似 | |
| GB/Z 17625.6-2003 | 电磁兼容限值 对额定电流大于16A的设备在低压供电系统中产生的谐波电流的限制 | 现行 | 相似 | |
| GB 17625.2-1999 | 电磁兼容限值 对额定电流不大于16A的设备在低压供电系统中产生的电压波动和闪烁的限制 | 废止 | 2000-06-01 | 相似 |
| GB 17625.1-2022 | 电磁兼容限值 第1部分：谐波电流发射限值（设备每相输入电流≤16A） | 现行 | 2024-07-01 | 相似 |
| GB 17625.1-2003 | 电磁兼容限值谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A) | 废止 | 2003-05-01 | 相似 |
| GB 17625.1-2012 | 电磁兼容限值谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A) | 废止 | 2013-07-01 | 相似 |
| GB/T 17626.34-2012 | 电磁兼容 试验和测量技术 主电源每相电流大于16A的设备的电压暂降、短时中断和电压变化抗扰度试验 | 现行 | 2012-09-01 | 相似 |
| GB/T 17626.11-2023 | 电磁兼容 试验和测量技术 第11部分：对每相输入电流小于或等于16 A设备的电压暂降、短时中断和电压变化抗扰度试验 | 现行 | 2024-06-01 | 相似 |
| GB/T 17625.2-2007 | 电磁兼容限值 对每相额定电流≤16A且无条件接入的设备在公用低压供电系统中产生的电压变化、电压波动和闪烁的限制 | 现行 | 2008-01-01 | 相似 |
| GB/T 17625.7-2013 | 电磁兼容限值 对额定电流≤75A且有条件接入的设备在公用低压供电系统中产生的电压变化、电压波动和闪烁的限制 | 现行 | 2013-12-02 | 相似 |
| GB/T 17626.17-2005 | 电磁兼容 试验和测量技术 直流电源输入端口纹波抗扰度试验 | 现行 | 2005-12-01 | 相似 |
| GB/T 17626.29-2006 | 电磁兼容 试验和测量技术 直流电源输入端口电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验 | 现行 | 2007-09-01 | 相似 |
| GB/T 13151-2005 | 半导体器件 分立器件 第6部分:晶闸管 第3篇 电流大于 100A、环境和管壳额定的反向阻断三极晶闸管空白详细规范 | 现行 | 2005-10-01 | 相似 |
| GB/T 13150-2005 | 半导体器件 分立器件 电流大于 100A、环境和管壳额定的双向三极晶闸管空白详细规范 | 现行 | 2005-10-01 | 相似 |
| JB/T 8950.2-1999 | 电流大于100A普通晶闸管 | 废止 | 2000-01-01 | 相似 |
| JB/T 8949.2-1999 | 电流大于100A普通整流管 | 废止 | 2000-01-01 | 相似 |