| GB/T 15884-1995 | 电子设备用固定电阻器 第5部分:空白详细规范 精密固定电阻器 评定水平 F | 废止 | 1995-12-22 | 1996-08-01 |
| GB/T 15883-1995 | 电子设备用膜固定电阻网络 第2部分:按能力批准程序评定质量的膜电阻网络空白详细规范 评定水平E | 废止 | 1995-12-22 | 1996-08-01 |
| GB/T 15882-1995 | 电子设备用膜固定电阻网络 第2部分:按能力批准程序评定质量的膜电阻网络分规范 | 废止 | 1995-12-22 | 1996-08-01 |
| GB/T 17035-1997 | 电子设备用固定电阻器 第4部分:空白详细规范 带散热器的功率型固定电阻器 评定水平H | 废止 | 1997-10-13 | 1998-09-01 |
| GB/T 17034-1997 | 电子设备用固定电阻器 第2部分:空白详细规范 低功率非线绕固定电阻器 评定水平F | 废止 | 1997-10-13 | 1998-09-01 |
| GB/T 18802.331-2007 | 低压电涌保护器元件 第331部分：金属氧化物压敏电阻（MOV）规范 | 废止 | 2007-06-21 | 2008-02-01 |
| DB52/T 842-2013 | RR1608、RR2012、RR3216型片式薄膜固定电阻器详细规范 | 废止 | 2013-10-16 | 2013-12-01 |
| T/CECA 27-2017 | 有可靠性指标的金属氧化物压敏电阻器总规范 | 现行 | 2019-03-11 | 2019-05-11 |
| T/CECA 27-2017 | 有可靠性指标的金属氧化物压敏电阻器总规范 | 现行 | 2019-03-11 | 2019-05-11 |
| T/CEMIA 021-2019 | 厚膜集成电路用电阻浆料规范 | 现行 | 2019-09-25 | 2019-12-25 |
| T/CEMIA 028-2022 | 片式电阻用面电极浆料规范 | 现行 | 2022-02-14 | 2022-05-15 |
| T/CEMIA 027-2022 | 片式电阻用背电极浆料规范 | 现行 | 2022-02-14 | 2022-05-15 |
| JJF 1098-2003 | 热电偶、热电阻自动测量系统校准规范 | 现行 | 2003-03-05 | 2003-06-01 |
| JJF 1170-2007 | 负温度系数低温电阻温度计校准规范 | 现行 | 2007-02-28 | 2007-08-28 |
| JJF 1285-2011 | 表面电阻测试仪校准规范 | 现行 | 2011-06-14 | 2011-09-14 |
| JJF 1379-2012 | 热敏电阻测温仪校准规范 | 现行 | 2012-12-12 | 2013-06-12 |
| JJF 1376-2012 | 箱式电阻炉校准规范 | 现行 | 2012-12-12 | 2013-03-12 |
| JJF 1618-2017 | 绝缘油介质损耗因数及体积电阻率测试仪校准规范 | 现行 | 2017-02-28 | 2017-05-28 |
