Metallic and non-metallic coatings -- Measurement of thickness -- Beta backscatter methods
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| T/BSPT 003-2020 | 粉体技术 光散射原理细颗粒物（PM2.5）质量浓度测量仪性能测试方法 | 现行 | 2020-01-08 | 2020-01-16 |
| T/CSP T/BSPT003-2018 | 光散射原理细颗粒物（PM2.5）质量浓度测量仪性能测试方法 | 现行 | 2018-02-08 | 2018-05-08 |
| T/BSPT 003-2020 | 粉体技术 光散射原理细颗粒物（PM2.5）质量浓度测量仪性能测试方法 | 现行 | 2020-01-08 | 2020-01-16 |
| T/ZBH 019-2021 | 玻璃应力测量方法—激光偏振散射法 | 现行 | 2021-11-23 | 2022-01-01 |
| GB/T 34172-2017 | 微束分析 电子背散射衍射 金属及合金的相分析方法 | 现行 | 2017-09-07 | 2018-08-01 |
| GB/T 21779-2025 | 金属粉末和相关化合物粒度分布的光散射试验方法 | 现行 | 2025-08-29 | 2025-12-01 |
| GB/T 36165-2018 | 金属平均晶粒度的测定 电子背散射衍射（EBSD）法 | 现行 | 2018-05-14 | 2019-02-01 |
| GB/T 21779-2008 | 金属粉末和相关化合物粒度分布的光散射试验方法 | 废止 | 2008-05-12 | 2008-09-01 |
| GB/T 47073-2026 | 表面化学分析 深度剖析 中能离子散射术对硅基底上纳米尺度重金属氧化物薄膜的无损深度剖析 | 即将实施 | 2026-01-28 | 2026-08-01 |
| GB/T 5950-2008 | 建筑材料与非金属矿产品白度测量方法 | 现行 | 2008-05-04 | 2008-10-01 |
| GB/T 15821-1995 | 金属覆盖层 延展性测量方法 | 废止 | 1995-12-14 | 1996-08-01 |
| GB/T 45345-2025 | 金属及其他无机覆盖层 工程用直流磁控溅射银镀层 镀层附着力的测量 | 现行 | 2025-02-28 | 2025-09-01 |
| DB21/T 2077-2013 | 电线电缆通用试验方法 金属编织和绕包层的覆盖率的测量 | 废止 | 2013-01-22 | 2013-02-22 |
| GB/T 15821-2025 | 金属覆盖层 延展性测量方法 | 即将实施 | 2025-10-31 | 2026-05-01 |
| GB/T 25188-2010 | 硅晶片表面超薄氧化硅层厚度的测量 X射线光电子能谱法 | 现行 | 2010-09-26 | 2011-08-01 |
| GB/T 11374-2012 | 热喷涂涂层厚度的无损测量方法 | 现行 | 2012-09-03 | 2013-03-01 |
| GB/T 13744-1992 | 磁性和非磁性基体上镍电镀层厚度的测量 | 现行 | 1992-11-04 | 1993-08-01 |
| GB/T 40066-2021 | 纳米技术 氧化石墨烯厚度测量 原子力显微镜法 | 现行 | 2021-05-21 | 2021-12-01 |