HB 8402-2013(2017) 相似标准 第3页

更新时间 2026-10-27
标准号标准名称状态实施日期相似标准
JB/T 7608-1994高压交流电机线圈绝缘介质损耗角正切试验方法及限值废止1995-06-01找相似
DL/T 767-2003全介质自承式光缆(ADSS)用预绞式金具技术条件和试验方法废止2003-06-01找相似
T/YH 1004-2020运载火箭贮箱液氮介质下低温内压试验方法现行2020-05-01——
T/CSTM 00151-2019酸性腐蚀介质干湿循环盐雾试验方法现行2020-02-07——
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T/YH 1004-2020运载火箭贮箱液氮介质下低温内压试验方法现行2020-05-01——
JB/T 7608-2026高压交流电机线圈介质损耗因数试验方法及限值即将实施2026-09-01找相似
DL/T 1154-2012高压电气设备额定电压下介质损耗因数试验导则现行2012-12-01找相似
DL/T 474.3-2018现场绝缘试验实施导则 介质损耗因数tanδ试验现行2018-07-01找相似
JB/T 7082-2013绝缘介质耐电压试验设备现行2014-07-01找相似
GB/T 45720-2025半导体器件 栅介质层的时间相关介电击穿(TDDB)试验现行2025-09-01找相似
T/CMES 20008-2023混相介质机械密封试验规范现行2024-01-31——
DL/T 474.3-2006现场绝缘试验实施导则 第3部分:介质损耗因数tanδ试验废止2006-10-01找相似
JB/T 7082-1993绝缘介质耐电压试验设备废止1994-01-01找相似
DL/T 2603-2023电容型设备相对介质损耗因数及电容量比值带电测试方法现行2023-11-26找相似
GB/T 7265.2-1987固体电介质微波复介电常数的测试方法 开式腔法现行1987-11-01找相似
GB/T 34665-2017电机线圈/绕组绝缘介质损耗因数测量方法现行2018-05-01找相似
GB/Z 20648-2006电子成像 擦除记录在一次写入光学介质上的信息的推荐方法现行——找相似