集成电路 焊柱阵列试验方法

Integrated circuits—Test methods for column grid array

GB/T 36479-2018推荐性国家标准

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GB/T 36479-2018 相似标准 第15页

更新时间 2026-10-25
标准号标准名称状态发布日期实施日期
SJ/T 10073-1991半导体集成电路CW7915型三端负稳压器(可供认证用)现行1991-04-081991-07-01
SJ/T 10270-1991半导体集成电路CF3080型跨导运算放大器详细规范现行1991-11-121992-01-01
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SJ/T 10048-1991半导体集成电路CT54LS169/CT74LS169型4位二进制同步加/减计数器现行1991-04-081991-07-01
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SJ/T 10268-1991半导体集成电路CF253型低功耗运算放大器详细规范现行1991-11-121992-01-01
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SJ/T 10082-1991半导体集成电路CT54195/CT74195型4位移位寄存器(半行存取,J--K输入)现行1991-04-081991-07-01
SJ/T 10078-1991半导体集成电路CT54107/CT74107型双主从J--K触发器(有清除端)现行1991-04-081991-07-01
SJ/T 11823-2022集成电路塑封油压机现行2022-10-202023-01-01
SJ/T 10267-1991半导体集成电路CF715型高速运算放大器详细规范现行1991-11-121992-01-01
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