| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
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| LY/T 2896-2017 | 大熊猫种群遗传档案建立技术规程 | 现行 | 2018-01-01 | 找相似 |
| DB15/T 2044-2020 | 农杆菌介导甜菜遗传转化技术规程 | 废止 | 2021-01-24 | 找相似 |
| DB23/T 2685-2020 | 水稻遗传性状定向突变育种技术规程 | 废止 | 2020-10-10 | 找相似 |
| DB51/T 2404-2017 | 大熊猫种群遗传档案建立技术规程 | 废止 | 2017-10-01 | 找相似 |
| DB43/T 896-2014 | 宁乡猪遗传资源保护技术规程 | 现行 | 2014-08-01 | —— |
| DB43/T 908-2014 | 大围子猪遗传资源保护技术规程 | 现行 | 2014-08-01 | —— |
| DB43/T 1044-2015 | 沙子岭猪遗传资源保护技术规程 | 现行 | 2015-09-20 | —— |
| DB43/T 1058-2015 | 湘西黑猪遗传资源保护技术规程 | 现行 | 2015-09-20 | —— |
| GB/T 30020-2023 | 玻璃缺陷检测方法 光弹扫描法 | 现行 | 2023-10-01 | 找相似 |
| GB/T 1979-2025 | 结构钢低倍组织缺陷评定 酸浸法和超声检测法 | 即将实施 | 2026-03-01 | 找相似 |
| GB/T 40067-2021 | 碳化钨粉末微观组织及缺陷检测方法 | 现行 | 2021-12-01 | 找相似 |
| GB/T 43493.1-2023 | 半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第1部分：缺陷分类 | 现行 | 2024-07-01 | 找相似 |
| GB/T 43493.2-2023 | 半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第2部分：缺陷的光学检测方法 | 现行 | 2024-07-01 | 找相似 |
| GB/T 43493.3-2023 | 半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第3部分：缺陷的光致发光检测方法 | 现行 | 2024-07-01 | 找相似 |
| GB/T 24300-2009 | 铜钨电触头缺陷检测方法 | 废止 | 2010-02-01 | 找相似 |
| GB/T 11346-2018 | 铝合金铸件射线照相检测缺陷分级 | 现行 | 2018-08-01 | 找相似 |
| DB32/T 4093-2021 | 增材制造 金属制件孔隙缺陷检测 工业计算机层析成像(CT)法 | 现行 | 2021-10-03 | 找相似 |