| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| SY/T 6800-2024 | 阵列感应成像测井仪 | 现行 | 2024-09-24 | 2025-03-24 |
| GB/T 34362-2017 | 无损检测 适形阵列涡流检测导则 | 现行 | 2017-09-29 | 2018-04-01 |
| GB/T 43798-2024 | 平板显示阵列用正性光阻材料测试方法 | 现行 | 2024-03-15 | 2024-10-01 |
| GB/T 5965-2000 | 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第一篇 双极型单片数字集成电路门电路(不包括自由逻辑阵列) 空白详细规范 | 现行 | 2000-01-03 | 2000-07-01 |
| DL/T 2086-2020 | 高压输电线路和变电站噪声的传声器阵列测量方法 | 现行 | 2020-10-23 | 2021-02-01 |
| GB/T 36479-2018 | 集成电路 焊柱阵列试验方法 | 现行 | 2018-06-07 | 2019-01-01 |
| SY/T 6937-2023 | 阵列声波测井资料处理与解释规范 | 现行 | 2023-10-11 | 2024-04-11 |
| SN/T 5915-2025 | 进出口危险化学品 易制爆品快速测定 比色阵列智能分析法 | 现行 | 2025-07-25 | 2026-02-01 |
| SY/T 6912-2024 | 阵列侧向测井仪 | 现行 | 2024-09-24 | 2025-03-24 |
| YY/T 1869-2023 | 探测器阵列剂量测量系统 性能和试验方法 | 现行 | 2023-01-13 | 2024-07-15 |
| GB/T 41869.1-2022 | 光学和光子学 微透镜阵列 第1部分：术语 | 现行 | 2022-10-12 | 2022-10-12 |
| JB/T 13150-2017 | 无损检测仪器 涡流检测仪用变阵列探头 | 现行 | 2017-04-12 | 2018-01-01 |
| JB/T 11780-2014 | 无损检测仪器 阵列涡流检测仪性能和检验 | 现行 | 2014-05-12 | 2014-10-01 |
| JB/T 11279-2012 | 无损检测仪器 线阵列涡流探头 | 现行 | 2012-05-24 | 2012-11-01 |
| GB/T 41869.2-2022 | 光学和光子学 微透镜阵列 第2部分：波前像差的测试方法 | 现行 | 2022-10-14 | 2023-05-01 |
| GB/T 12604.13-2023 | 无损检测 术语 第13部分：阵列超声检测 | 现行 | 2023-05-23 | 2023-05-23 |
| GB/T 15879.604-2023 | 半导体器件的机械标准化 第6-4部分：表面安装半导体器件封装外形图绘制的一般规则 焊球阵列（BGA）封装的尺寸测量方法 | 现行 | 2023-05-23 | 2023-09-01 |
| GB/T 41869.3-2024 | 光学和光子学 微透镜阵列 第3部分：光学特性测试方法 | 现行 | 2024-11-28 | 2025-06-01 |