| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 7896-2008 | 人造光学石英晶体试验方法 | 现行 | 2008-06-30 | 2009-04-01 |
| GB/T 6627-1986 | 人造石英晶体棒材型号命名方法 | 现行 | 1986-07-29 | 1987-06-01 |
| GB/T 15651.7-2024 | 半导体器件 第5-7部分：光电子器件 光电二极管和光电晶体管 | 现行 | 2024-03-15 | 2024-07-01 |
| GB/T 43610-2023 | 微束分析 分析电子显微术 线状晶体表观生长方向的透射电子显微术测定方法 | 现行 | 2023-12-28 | 2024-07-01 |
| GB/T 22319.6-2023 | 石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性(DLD)的测量 | 现行 | 2023-09-07 | 2024-01-01 |
| GB/T 4587-2023 | 半导体器件 分立器件 第7部分：双极型晶体管 | 现行 | 2023-09-07 | 2024-04-01 |
| NB/T 42104.4-2016 | 地面用晶体硅光伏组件环境适应性测试要求 第4部分：高原气候条件 | 废止 | 2016-12-05 | 2017-05-01 |
| GB/T 9535-1998 | 地面用晶体硅光伏组件 设计鉴定和定型 | 废止 | 1998-11-17 | 1999-06-01 |
| GB/T 22319.7-2015 | 石英晶体元件参数的测量 第7部分：石英晶体元件活性跳变的测量 | 现行 | 2015-06-02 | 2016-02-01 |
| JY/T 0006-2011 | 晶体管特性图示仪 | 现行 | 2013-07-11 | 2013-07-11 |
| JB/T 9495.2-1999 | 光学晶体折射率测量方法 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 9495.3-1999 | 光学晶体透过率测量方法 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 9495.6-1999 | 光学晶体光吸收系数测量方法 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 10789-2007 | 高压晶体炉 TDR-GY系列液封直拉法高压晶体炉 | 现行 | 2007-08-28 | 2008-02-01 |
| JB/T 8951.1-1999 | 绝缘栅双极型晶体管 | 废止 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 6307.4-1992 | 电力半导体模块测试方法双极型晶体管臂和臂对 | 现行 | 1992-06-26 | 1993-01-01 |
| JB/T 9495.4-1999 | 光学晶体应力双折射测量方法 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 11375-2013 | 超微细晶体放映屏幕 | 现行 | 2013-12-31 | 2014-07-01 |