| GB/T 24276-2025 | 通过计算进行低压成套开关设备和控制设备温升验证的一种方法 | 即将实施 | 2025-12-31 | 2026-07-01 |
| T/CPSS 1008-2020 | 低压电气设备电压暂降及短时中断耐受能力测试方法 | 现行 | 2020-08-25 | 2020-09-01 |
| SJ/T 10582-2023 | 低压断路器用真空开关管测试方法 | 现行 | 2023-05-22 | 2023-08-01 |
| JB/T 2930-2024 | 低压电器产品型号编制方法 | 现行 | 2024-03-29 | 2024-10-01 |
| GB/T 5095.1-1997 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第1部分:总则 | 现行 | 1997-12-26 | 1998-10-01 |
| GB/T 5095.7-1997 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第7部分:机械操作试验和密封性试验 | 现行 | 1997-12-26 | 1998-10-01 |
| GB/T 5095.5-1997 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第5部分:撞击试验(自由元件)、静负荷试验(固定元件)、寿命试验和过负荷试验 | 现行 | 1997-12-26 | 1998-10-01 |
| GB/T 5095.12-1997 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第12部分:锡焊试验 第六篇:试验12f在机器焊接中封焊处耐焊剂和清洁剂 | 现行 | 1997-12-26 | 1998-10-01 |
| GB/T 5095.8-1997 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第8部分:连接器、接触件及引出端的机械试验 | 现行 | 1997-12-26 | 1998-10-01 |
| GB/T 5095.15-1997 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第15部分:接触件和引出端的机械试验 第八篇:试验15h接触件固定机构耐工具使用性 | 现行 | 1997-12-26 | 1998-10-01 |
| GB/T 5095.9-1997 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第9部分:杂项试验 | 现行 | 1997-12-26 | 1998-10-01 |
| GB/T 5095.3-1997 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第3部分:载流容量试验 | 现行 | 1997-12-26 | 1998-10-01 |
| GB/T 5095.6-1997 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第6部分:气候试验和锡焊试验 | 现行 | 1997-12-26 | 1998-10-01 |
| GB/T 5095.11-1997 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第11部分:气候试验 | 现行 | 1997-12-26 | 1998-10-01 |
| GB/T 5095.4-1997 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第4部分:动态应力试验 | 现行 | 1997-12-26 | 1998-10-01 |
| GB/T 5095.2-1997 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第2部分:一般检查、电连续性和接触电阻测试、绝缘试验和电压应力试验 | 现行 | 1997-12-26 | 1998-10-01 |
| GB/T 4857.13-2005 | 包装 运输包装件基本试验 第13部分:低气压试验方法 | 现行 | 2005-05-25 | 2005-11-01 |
| GB/T 4857.10-2005 | 包装 运输包装件基本试验 第10部分:正弦变频振动试验方法 | 现行 | 2005-05-25 | 2005-11-01 |