| GB/T 18904.5-2003 | 半导体器件 第12-5部分:光电子器件 纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的pin光电二极管空白详细规范 | 现行 | 2003-08-01 | 找相似 |
| GB/T 36401-2018 | 表面化学分析 X射线光电子能谱 薄膜分析结果的报告 | 现行 | 2019-05-01 | 找相似 |
| GB/T 33502-2017 | 表面化学分析 X射线光电子能谱（XPS）数据记录与报告的规范要求 | 现行 | 2018-01-01 | 找相似 |
| GB/T 15651.4-2017 | 半导体器件 分立器件 第5-4部分:光电子器件 半导体激光器 | 现行 | 2017-12-01 | 找相似 |
| GB/T 28633-2012 | 表面化学分析 X射线光电子能谱 强度标的重复性和一致性 | 现行 | 2013-02-01 | 找相似 |
| GB/T 28632-2012 | 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率测定 | 现行 | 2013-02-01 | 找相似 |
| GB/T 25185-2010 | 表面化学分析 X射线光电子能谱 - 荷电控制和荷电校正方法的报告 | 现行 | 2011-08-01 | 找相似 |
| GB/T 21006-2007 | 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标的线性 | 现行 | 2008-03-01 | 找相似 |
| GB/T 30704-2014 | 表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南 | 现行 | 2014-12-01 | 找相似 |
| GB/T 30702-2014 | 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 实验测定的相对灵敏度因子在均匀材料定量分析中的使用指南 | 现行 | 2014-12-01 | 找相似 |
| GB/T 15651.7-2024 | 半导体器件 第5-7部分：光电子器件 光电二极管和光电晶体管 | 现行 | 2024-07-01 | 找相似 |
| GB/T 28893-2024 | 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 测定峰强度的方法和报告结果所需的信息 | 现行 | 2024-10-01 | 找相似 |
| GB/T 15651.5-2024 | 半导体器件 第5-5部分：光电子器件 光电耦合器 | 现行 | 2024-07-01 | 找相似 |
| GB/T 43789.32-2024 | 电子纸显示器件 第3-2部分：光电性能测试方法 | 现行 | 2024-03-15 | 找相似 |
| GB/T 28892-2024 | 表面化学分析 X射线光电子能谱 选择仪器性能参数的表述 | 现行 | 2024-07-01 | 找相似 |
| GB/T 15651.6-2023 | 半导体器件 第5-6部分：光电子器件 发光二极管 | 现行 | 2024-04-01 | 找相似 |
| GB/T 41073-2021 | 表面化学分析 电子能谱 X射线光电子能谱峰拟合报告的基本要求 | 现行 | 2022-07-01 | 找相似 |
| GB/T 43598-2023 | 纳米技术 石墨烯粉体氧含量和碳氧比的测定 X射线光电子能谱法 | 现行 | 2024-07-01 | 找相似 |