半导体器件 分立器件 第5-4部分:光电子器件 半导体激光器

Semiconductor devices—Discrete devices—Part 5-4:Optoelectronic devices—Semiconductor lasers

GB/T 15651.4-2017 推荐性国家标准

现行

标准状态

发布日期

2017-05-31

实施日期

2017-12-01

基础信息

标准号

GB/T 15651.4-2017

批准发布部门

工业和信息化部(电子)

发布部门

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会

技术归口

工业和信息化部(电子)

是否采用国际标准

该标准采用国际标准

标准分类

中国标准分类号

L51

国际标准分类号

31.260

标准层级

国家标准

GB/T 15651.4-2017 相关专题

GB/T 15651.4-2017 相似标准

标准号 标准名称 状态 发布日期 实施日期
JB/T 6307.3-1992 电力半导体模块测试方法整流管三相桥 现行 1992-06-26 1993-01-01
SJ/T 2658.13-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第13部分:辐射功率温度系数 现行 2015-10-10 2016-04-01
SJ/T 10149-1991 电子元器件图形库 半导体分立器件图形 现行 1991-04-02 1991-07-01
DB32/T 4894-2024 微机电系统半导体气体传感器性能检测方法 现行 2024-11-07 2024-12-07
SJ/T 2658.4-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第4部分:总电容 现行 2015-10-10 2016-04-01
SJ/T 11393-2009 半导体光电子器件 功率发光二极管空白详细规范 现行 2009-11-17 2010-01-01
T/GVS 005-2022 半导体装备用绝压电容薄膜真空计比对法测试规范 现行 2022-03-28 2022-03-28
SJ/T 1838-2016 半导体分立器件 3DK29型NPN硅小功率开关晶体管详细规范 现行 2016-04-05 2016-09-01
SJ/T 2658.10-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第10部分:调制带宽 现行 2015-10-10 2016-04-01
T/CEMIA 036-2023 半导体显示用高碱浓度负胶显影液 现行 2023-11-06 2023-11-30
T/ZZB 3888-2024 半导体芯片测试用探针头 现行 2024-12-06 2024-12-06
GB/T 37131-2018 纳米技术 半导体纳米粉体材料紫外-可见漫反射光谱的测试方法 现行 2018-12-28 2018-12-28
SJ/T 2658.11-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第11部分:响应时间 现行 2015-10-10 2016-04-01
GB/T 26070-2010 化合物半导体抛光晶片亚表面损伤的反射差分谱测试方法 现行 2011-01-10 2011-10-01
T/ZZB 2283-2021 半导体级碳化硅单晶用超高纯石墨粉 现行 2021-08-26 2021-09-26
GB/T 39771.1-2021 半导体发光二极管光辐射安全 第1部分:要求与等级分类方法 现行 2021-03-09 2021-10-01
SJ/T 11402-2009 光纤通信用半导体激光器芯片技术规范 现行 2009-11-17 2010-01-01
SJ/T 11850-2022 半导体分立器件 3DK2219A、3DK2222A、3DK2222AUB型NPN硅小功率开关晶体管详细规范 现行 2022-10-20 2023-01-01
GB/T 43894.1-2024 半导体晶片近边缘几何形态评价 第1部分:高度径向二阶导数法(ZDD) 现行 2024-04-25 2024-11-01
GB/T 21548-2021 光通信用高速直接调制半导体激光器的测量方法 现行 2021-04-30 2021-08-01
GB/T 7581-2026 半导体分立器件外形尺寸 即将实施 2026-03-31 2026-10-01
SJ/T 1826-2016 半导体分立器件 3DK100型NPN硅小功率开关晶体管详细规范 现行 2016-04-05 2016-09-01
SJ/T 2658.8-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第8部分:辐射强度 现行 2015-10-10 2016-04-01
GB/T 12667-2012 同步电动机半导体励磁装置总技术条件 现行 2012-06-29 2012-11-01
SJ/T 10039-1991 半导体集成电路CMOS4000系列译码器 现行 1991-04-08 1991-07-01
GB/T 33293-2016 常压下油井水泥收缩与膨胀的测定 现行 2016-12-13 2017-07-01