半导体分立器件外形尺寸

Dimensions of outlines for semiconductor discrete devices

GB/T 7581-1987 推荐性国家标准

现行

标准状态

发布日期

1987-03-27

实施日期

1987-11-01

基础信息

标准号

GB/T 7581-1987

批准发布部门

工业和信息化部(电子)

发布部门

国家标准局

技术归口

工业和信息化部(电子)

是否采用国际标准

该标准采用国际标准

标准分类

中国标准分类号

L42

国际标准分类号

31.080

标准层级

国家标准

GB/T 7581-1987 相关专题

GB/T 7581-1987 相似标准

标准号 标准名称 状态 发布日期 实施日期
SJ/T 11487-2015 半绝缘半导体晶片电阻率的无接触测量方法 现行 2015-04-30 2015-10-01
JC/T 2133-2012 半导体抛光液用硅溶胶中杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法 现行 2012-12-28 2013-06-01
T/GVS 014-2024 半导体设备用低温泵评价规范 现行 2024-08-02 2024-08-02
GB/T 31359-2015 半导体激光器测试方法 现行 2015-02-04 2015-08-01
GB/T 7092-2021 半导体集成电路外形尺寸 现行 2021-03-09 2021-10-01
JB 9644-1999 半导体电气传动用电抗器 现行 1999-08-06 2000-01-01
SJ/T 2658.5-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第5部分:串联电阻 现行 2015-10-10 2016-04-01
SJ/T 2658.4-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第4部分:总电容 现行 2015-10-10 2016-04-01
T/IAWBS 004-2021 电动汽车用功率半导体模块可靠性试验通用要求及试验方法 现行 2021-09-16 2021-09-23
DB32/T 4894-2024 微机电系统半导体气体传感器性能检测方法 现行 2024-11-07 2024-12-07
JC/T 597-2011 半导体用透明石英玻璃管 现行 2011-12-20 2012-07-01
GB/T 15652-1995 金属氧化物半导体气敏元件总规范 现行 1995-07-24 1996-04-01
GB/T 21226-2007 半导体变流器 变流联结的标识代号 现行 2007-12-03 2008-05-20
SJ/T 2658.12-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第12部分:峰值发射波长和光谱辐射带宽 现行 2015-10-10 2016-04-01
SJ/T 2658.13-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第13部分:辐射功率温度系数 现行 2015-10-10 2016-04-01
GB/T 249-2026 半导体分立器件型号命名方法 即将实施 2026-02-27 2026-09-01
SJ/T 1477-2016 半导体分立器件 3CG120型硅PNP高频小功率晶体管详细规范 现行 2016-04-05 2016-09-01
GB/T 35010.8-2018 半导体芯片产品 第8部分:数据交换的EXPRESS格式 现行 2018-03-15 2018-08-01
SJ/T 11405-2009 光纤系统用半导体光电子器件 第2部分:测量方法 现行 2009-11-17 2010-01-01
SJ/T 11866-2022 半导体光电子器件 硅衬底白光功率发光二极管详细规范 现行 2022-10-20 2023-01-01
GB/T 17950-2000 半导体变流器 第6部分:使用熔断器保护半导体变流器防止过电流的应用导则 废止 2000-01-03 2000-08-01
GB/T 8750-2022 半导体封装用金基键合丝、带 现行 2022-12-30 2023-07-01
T/QGCML 3970-2024 半导体车间金属粉尘智能检测分析系统 现行 2024-03-27 2024-04-11
SJ/T 2658.7-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第7部分:辐射通量 现行 2015-10-10 2016-04-01
GB/T 14548-2025 船用半导体变流器通用技术条件 现行 2025-08-01 2026-02-01
GB/T 2011-1987 散装锰矿石取样、制样方法 现行 1987-12-19 1988-10-01