半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法

Measurement procedures for semiconductor X-ray detector system and semiconductor X-ray energyspectrometers

GB/T 11685-2003 推荐性国家标准

现行

标准状态

发布日期

2003-07-07

实施日期

2004-01-01

基础信息

标准号

GB/T 11685-2003

批准发布部门

国家标准委

发布部门

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局

技术归口

国家标准委

是否采用国际标准

该标准采用国际标准

标准分类

中国标准分类号

F80

国际标准分类号

27.120.01

标准层级

国家标准

专题

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