碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管 (SiC MOSFET)功率循环试验方法

Power cycling test method for silicon carbide metal-oxide-semiconductor field-effect-transistor(SiC MOSFET)

T/CASAS 015-2022 制造业

现行

标准状态

发布日期

2022-07-18

实施日期

2022-07-18

基础信息

标准号

T/CASAS 015-2022

团体名称

北京第三代半导体产业技术创新战略联盟

包含专利

标准分类

国际标准分类号

31.080.01 半导体器分立件综合

行业分类

C397 电子器件制造

标准层级

团体标准

适用范围

本文件规定了碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFET)功率循环试验方法,包括:试验装置、试验程序以及失效判据。 本文件适用于不带反向并联肖特基二极管的SiC MOSFET分立器件的功率循环试验。

主要技术内容

本文件规定了碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFET)功率循环试验方法,包括:试验装置、试验程序以及失效判据。本文件适用于不带反向并联肖特基二极管的SiC MOSFET分立器件的功率循环试验。

起草单位

工业和信息化部电子第五研究所、江苏宏微科技股份有限公司、国网智能电网研究院有限公司、深圳市禾望电气股份有限公司、佛山市国星光电股份有限公司、中国电子科技集团集团第五十五研究所、比亚迪半导体股份有限公司、深圳基本半导体有限公司、中国航天科技集团公司第八研究院第八0八研究所、南方电网科学研究院有限责任公司、西安交通大学、东莞南方半导体科技有限公司、北京第三代半导体产业技术创新战略联盟

起草人

陈媛、贺致远、来萍、路国光、姚天保、李金元、李尧圣、谢峰、成年斌、陈义强、黄云、刘奥、刘昌、徐新兵、吴海平、唐宏浩、刘伟鑫、李巍巍、王来利、乔良、徐瑞鹏

专题

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