首页/团体标准/制造业/T/CASAS 015-2022

碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管 （SiC MOSFET）功率循环试验方法

Power cycling test method for silicon carbide metal-oxide-semiconductor field-effect-transistor（SiC MOSFET）

T/CASAS 015-2022制造业

现行

标准状态

发布日期

2022-07-18

实施日期

2022-07-18

基础信息

标准号

T/CASAS 015-2022

团体名称

北京第三代半导体产业技术创新战略联盟

包含专利

否

标准分类

国际标准分类号

31.080.01 半导体器分立件综合

行业分类

C397 电子器件制造

标准层级

团体标准

适用范围

本文件规定了碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管（SiC MOSFET）功率循环试验方法，包括：试验装置、试验程序以及失效判据。 本文件适用于不带反向并联肖特基二极管的SiC MOSFET分立器件的功率循环试验。

主要技术内容

本文件规定了碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管（SiC MOSFET）功率循环试验方法，包括：试验装置、试验程序以及失效判据。本文件适用于不带反向并联肖特基二极管的SiC MOSFET分立器件的功率循环试验。

起草单位

工业和信息化部电子第五研究所、江苏宏微科技股份有限公司、国网智能电网研究院有限公司、深圳市禾望电气股份有限公司、佛山市国星光电股份有限公司、中国电子科技集团集团第五十五研究所、比亚迪半导体股份有限公司、深圳基本半导体有限公司、中国航天科技集团公司第八研究院第八0八研究所、南方电网科学研究院有限责任公司、西安交通大学、东莞南方半导体科技有限公司、北京第三代半导体产业技术创新战略联盟

起草人

陈媛、贺致远、来萍、路国光、姚天保、李金元、李尧圣、谢峰、成年斌、陈义强、黄云、刘奥、刘昌、徐新兵、吴海平、唐宏浩、刘伟鑫、李巍巍、王来利、乔良、徐瑞鹏

T/CASAS 015-2022 相关专题

T/CASAS 015-2022 相似标准

标准号标准名称状态发布日期实施日期
T/CASAS 016-2022碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管 （SiC MOSFET）结壳热阻瞬态双界面测试方法现行2022-07-182022-07-18
T/SZBSIA 006-2022IC类半导体固晶机技术规范现行2022-09-232022-09-24
T/SZBSIA 007-2022IC类半导体固晶机检测规范现行2022-09-232022-09-24
T/AHEPI 04-2022温室气体通量监测技术规范 可调谐半导体激光吸收光谱法现行2022-12-202023-01-03
T/CPSS 1004-2025车规级功率半导体模块动态特性测试规范现行2025-01-222025-01-23
T/SICA 008-2025半导体IBO套刻设备验收规范现行2025-06-032025-07-03
T/GSEE 0011-2023高压交流电路半导体开关设备技术规范现行2023-12-052023-12-05
T/NXCL 28-2024半导体级单晶硅生长用合成石英坩埚现行2024-02-022024-02-02
T/CIECCPA 007-2024半导体工业氮氧化物排放要求现行2024-03-042024-03-08
T/QGCML 3956-2024半导体实验室恒湿温试验管理平台现行2024-03-272024-04-11
T/QGCML 3970-2024半导体车间金属粉尘智能检测分析系统现行2024-03-272024-04-11
T/GVS 014-2024半导体设备用低温泵评价规范现行2024-08-022024-08-02
T/GVS 005-2022 (2)半导体装备用绝压电容薄膜真空计比对法测试规范现行2022-03-282022-03-28
T/QGCML 1407-2023半导体光伏制造用双套管密封装置现行2023-09-142023-09-30
T/CCGA 90004-2023泛半导体用尾气处理设备分解 移除效率的测试方法现行2023-12-182024-01-18
T/ZZB 2283-2021半导体级碳化硅单晶用超高纯石墨粉现行2021-08-262021-09-26
T/CEMIA 036-2023半导体显示用高碱浓度负胶显影液现行2023-11-062023-11-30
T/ZZB 1718-2023半导体封装用键合金丝现行2024-11-142024-12-14
T/STIC 110096-2024半导体用多级罗茨干式真空泵现行2024-01-012024-01-01
T/ZZB 3888-2024半导体芯片测试用探针头现行2024-12-062024-12-06
T/CIET 722-2024半导体用高纯溅射靶材现行2024-10-232024-10-23
T/SZBSIA 007-2025IC类半导体固晶机检测规范现行2025-12-022025-12-02
T/SZBSIA 006-2025IC类半导体固晶机技术规范现行2025-12-022025-12-02
GB/T 4326-2025非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法即将实施2025-10-312026-05-01
T/CASAS 016-2022碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管 （SiC MOSFET）结壳热阻瞬态双界面测试方法现行2022-07-182022-07-18