半导体分立器件型号命名方法

Rule of type designation for discrete semiconductor devices

GB/T 249-2026 推荐性国家标准

即将实施

标准状态

发布日期

2026-02-27

实施日期

2026-09-01

基础信息

标准号

GB/T 249-2026

批准发布部门

工业和信息化部(电子)

发布部门

国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会

技术归口

工业和信息化部(电子)

标准分类

中国标准分类号

L40

国际标准分类号

31.080.01

标准层级

国家标准

GB/T 249-2026 相关专题

GB/T 249-2026 相似标准

标准号 标准名称 状态 发布日期 实施日期
T/AHEPI 04-2022 温室气体通量监测技术规范 可调谐半导体激光吸收光谱法 现行 2022-12-20 2023-01-03
GB/T 37031-2018 半导体照明术语 现行 2018-12-28 2018-12-28
SJ/T 10685-1995 半导体调幅广播收音机用中频变压器及振荡线圈 现行 1995-09-12 1996-01-01
T/SZBSIA 006-2022 IC类半导体固晶机技术规范 现行 2022-09-23 2022-09-24
SJ/T 2658.11-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第11部分:响应时间 现行 2015-10-10 2016-04-01
SJ/T 2749-2016 半导体激光二极管测试方法 现行 2016-01-15 2016-06-01
SJ/T 11763-2020 半导体制造设备人机界面规范 现行 2020-12-09 2021-04-01
T/CEMIA 036-2023 半导体显示用高碱浓度负胶显影液 现行 2023-11-06 2023-11-30
GB/T 43366-2023 宇航用半导体分立器件通用规范 现行 2023-11-27 2024-03-01
GB/T 35010.8-2018 半导体芯片产品 第8部分:数据交换的EXPRESS格式 现行 2018-03-15 2018-08-01
GB/T 20521-2006 半导体器件 第14-1部分: 半导体传感器-总则和分类 现行 2006-08-23 2007-02-01
GB/T 1555-2023 半导体单晶晶向测定方法 现行 2023-08-06 2024-03-01
GB/T 37131-2018 纳米技术 半导体纳米粉体材料紫外-可见漫反射光谱的测试方法(外文版EN) 现行 2023-11-02
GB/T 30116-2013 半导体生产设施电磁兼容性要求 现行 2013-12-17 2014-04-15
SJ/T 2658.7-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第7部分:辐射通量 现行 2015-10-10 2016-04-01
GB/T 14548-1993 船用半导体变流器通用技术条件 废止 1993-07-31 1994-02-01
GB/T 45716-2025 半导体器件 金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFETs)的偏置温度不稳定性试验 现行 2025-05-30 2025-09-01
T/GVS 005-2022 半导体装备用绝压电容薄膜真空计比对法测试规范 现行 2022-03-28 2022-03-28
SJ/T 11398-2009 功率半导体发光二极管芯片技术规范 现行 2009-11-17 2010-01-01
JB/T 7062-1993 半导体变流器联结的标志代号 现行 1993-10-08 1994-01-01
GB/T 37131-2018 纳米技术 半导体纳米粉体材料紫外-可见漫反射光谱的测试方法 现行 2018-12-28 2018-12-28
T/QGCML 3970-2024 半导体车间金属粉尘智能检测分析系统 现行 2024-03-27 2024-04-11
SJ/T 1486-2016 半导体分立器件 3CG180型硅PNP高频高反压小功率晶体管详细规范 现行 2016-04-05 2016-09-01
SJ/T 1838-2016 半导体分立器件 3DK29型NPN硅小功率开关晶体管详细规范 现行 2016-04-05 2016-09-01
T/CCGA 90004-2023 半导体用尾气处理设备分解 移除效率的测试方法 现行 2023-12-18 2024-01-18
GB/T 25443-2010 移动式点焊机 现行 2010-11-10 2011-05-01