半导体晶片近边缘几何形态评价 第2部分:边缘卷曲法(ROA)

Practice for determining semiconductor wafer near-edge geometry—Part 2: Roll-off amount(ROA)

GB/T 43894.2-2026 推荐性国家标准

即将实施

标准状态

发布日期

2026-01-28

实施日期

2026-08-01

基础信息

标准号

GB/T 43894.2-2026

批准发布部门

国家标准委

发布部门

国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会

技术归口

国家标准委

标准分类

中国标准分类号

H21

国际标准分类号

77.040

标准层级

国家标准

GB/T 43894.2-2026 相关专题

GB/T 43894.2-2026 相似标准

标准号 标准名称 状态 发布日期 实施日期
GB/T 37131-2018 纳米技术 半导体纳米粉体材料紫外-可见漫反射光谱的测试方法(外文版EN) 现行 2023-11-02
T/GVS 005-2022 (2) 半导体装备用绝压电容薄膜真空计比对法测试规范 现行 2022-03-28 2022-03-28
GB/T 45716-2025 半导体器件 金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFETs)的偏置温度不稳定性试验 现行 2025-05-30 2025-09-01
SJ/T 10071-1991 半导体集成电路CH2022型4位移位寄存器详细规范 现行 1991-04-08 1991-07-01
SJ/T 11874-2022 电动汽车用半导体分立器件应力试验程序 现行 2022-10-20 2023-01-01
SJ/T 11397-2009 半导体发光二极管用萤光粉 现行 2009-11-17 2010-01-01
SJ/T 10290-1991 半导体调频广播接收机用中频变压器总规范 现行 1991-11-12 1992-01-01
GB/T 4326-2025 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法 即将实施 2025-10-31 2026-05-01
GB/T 45762-2025 精细陶瓷 室内照明环境下半导体光催化材料测试用光源 现行 2025-06-30 2026-01-01
GB/T 7581-1987 半导体分立器件外形尺寸 现行 1987-03-27 1987-11-01
GB/T 31359-2015 半导体激光器测试方法 现行 2015-02-04 2015-08-01
GB/T 39771.2-2021 半导体发光二极管光辐射安全 第2部分:测试方法 现行 2021-03-09 2021-10-01
T/ZZB 3888-2024 半导体芯片测试用探针头 现行 2024-12-06 2024-12-06
GB/T 35010.7-2018 半导体芯片产品 第7部分:数据交换的XML格式 现行 2018-03-15 2018-08-01
YY/T 1751-2020 激光治疗设备 半导体激光鼻腔内照射治疗仪 现行 2020-09-27 2021-09-01
T/CASAS 015-2022 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管 (SiC MOSFET)功率循环试验方法 现行 2022-07-18 2022-07-18
SJ/T 11395-2009 半导体照明术语 现行 2009-11-17 2010-01-01
T/IAWBS 004-2021 电动汽车用功率半导体模块可靠性试验通用要求及试验方法 现行 2021-09-16 2021-09-23
GB/T 43136-2023 超硬磨料制品 半导体芯片精密划切用砂轮 现行 2023-09-07 2024-04-01
DB32/T 4894-2024 微机电系统半导体气体传感器性能检测方法 现行 2024-11-07 2024-12-07
GB/T 13973-2012 半导体管特性图示仪通用规范 现行 2012-12-31 2013-06-01
GB/T 36358-2018 半导体光电子器件 功率发光二极管空白详细规范 现行 2018-06-07 2019-01-01
T/GVS 014-2024 半导体设备用低温泵评价规范 现行 2024-08-02 2024-08-02
SJ/T 1830-2016 半导体分立器件 3DK101型NPN硅小功率开关晶体管详细规范 现行 2016-04-05 2016-09-01
JB/T 6307.5-1994 电力半导体模块测试方法 双极型晶体管单相桥和三相桥 现行 1994-12-09 1995-06-01
GB/T 24800.8-2009 化妆品中甲氨嘌呤的测定 高效液相色谱法 现行 2009-11-30 2010-05-01