The rule of type designation for discrete semiconductor devices
现行
2017-05-12
2017-12-01
GB/T 249-2017
工业和信息化部(电子)
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
工业和信息化部(电子)
L40
31.080.01
国家标准
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| T/ZZB 3888-2024 | 半导体芯片测试用探针头 | 现行 | 2024-12-06 | 2024-12-06 |
| SJ/T 11405-2009 | 光纤系统用半导体光电子器件 第2部分:测量方法 | 现行 | 2009-11-17 | 2010-01-01 |
| SJ/T 2658.6-2015 | 半导体红外发射二极管测量方法 第6部分:辐射功率 | 现行 | 2015-10-10 | 2016-04-01 |
| GB/T 39771.1-2021 | 半导体发光二极管光辐射安全 第1部分:要求与等级分类方法 | 现行 | 2021-03-09 | 2021-10-01 |
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| GB/T 31359-2015 | 半导体激光器测试方法 | 现行 | 2015-02-04 | 2015-08-01 |
| GB/T 14048.12-2016 | 低压开关设备和控制设备 第4-3部分:接触器和电动机起动器 非电动机负载用交流半导体控制器和接触器 | 废止 | 2016-12-13 | 2017-07-01 |
| T/ZZB 1718-2023 | 半导体封装用键合金丝 | 现行 | 2024-11-14 | 2024-12-14 |
| GB/T 37131-2018 | 纳米技术 半导体纳米粉体材料紫外-可见漫反射光谱的测试方法(外文版EN) | 现行 | 2023-11-02 | |
| SJ/T 11818.2-2022 | 半导体紫外发射二极管 第2部分:芯片规范 | 现行 | 2022-10-20 | 2023-01-01 |
| SJ/T 10435-1993 | 半导体电阻应变计总规范 | 现行 | 1993-12-17 | 1994-06-01 |
| SJ/T 10139-1991 | 半导体调频广播接收机用中频变压器 | 现行 | 1991-04-02 | 1991-07-01 |
| GB/T 7092-2021 | 半导体集成电路外形尺寸 | 现行 | 2021-03-09 | 2021-10-01 |
| SJ/T 11818.3-2022 | 半导体紫外发射二极管 第3部分:器件规范 | 现行 | 2022-10-20 | 2023-01-01 |
| SJ/T 2658.3-2015 | 半导体红外发射二极管测量方法 第3部分:反向电压和反向电流 | 现行 | 2015-10-10 | 2016-04-01 |
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