| GB/T 15651.5-2024 | 半导体器件 第5-5部分：光电子器件 光电耦合器 | 现行 | 2024-07-01 | 找相似 |
| GB/T 43789.32-2024 | 电子纸显示器件 第3-2部分：光电性能测试方法 | 现行 | 2024-03-15 | 找相似 |
| GB/T 28892-2024 | 表面化学分析 X射线光电子能谱 选择仪器性能参数的表述 | 现行 | 2024-07-01 | 找相似 |
| GB/T 15651.6-2023 | 半导体器件 第5-6部分：光电子器件 发光二极管 | 现行 | 2024-04-01 | 找相似 |
| GB/T 41073-2021 | 表面化学分析 电子能谱 X射线光电子能谱峰拟合报告的基本要求 | 现行 | 2022-07-01 | 找相似 |
| GB/T 43598-2023 | 纳米技术 石墨烯粉体氧含量和碳氧比的测定 X射线光电子能谱法 | 现行 | 2024-07-01 | 找相似 |
| GB/T 19500-2025 | 表面化学分析 X射线光电子能谱分析方法通则 | 现行 | 2026-01-01 | 找相似 |
| GB/T 29556-2013 | 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率、分析面积和分析器所能检测到的样品面积的测定 | 现行 | 2014-03-01 | 找相似 |
| GB/T 22571-2017 | 表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标尺的校准 | 现行 | 2018-01-01 | 找相似 |
| GB/T 41064-2021 | 表面化学分析 深度剖析 用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中深度剖析溅射速率的方法 | 现行 | 2022-07-01 | 找相似 |
| YS/T 644-2007 | 铂钌合金薄膜测定方法 X射线光电子能谱法 测定合金态铂及合金态钌含量 | 现行 | 2007-10-01 | 找相似 |
| GB/T 47076-2026 | 表面化学分析 X射线光电子能谱 导电碳基材料结合能的测量 | 即将实施 | 2026-08-01 | 找相似 |
| GB/T 45772-2025 | 表面化学分析 电子能谱 X射线光电子能谱分析中X射线致材料非预期损伤的识别、评估和校正程序 | 现行 | 2026-01-01 | 找相似 |
| GB/T 45769-2025 | 表面化学分析 X射线光电子能谱 均匀材料中元素检测限的评估和报告 | 现行 | 2026-01-01 | 找相似 |
| GB/Z 32490-2016 | 表面化学分析 X射线光电子能谱 确定本底的程序 | 现行 | —— | 找相似 |
| GB/T 45773-2025 | 表面化学分析 X射线光电子能谱全扫描谱的准实时信息 含碳化合物表面污染的识别和校正规则 | 现行 | 2026-01-01 | 找相似 |
| SJ/T 11866-2022 | 半导体光电子器件 硅衬底白光功率发光二极管详细规范 | 现行 | 2023-01-01 | 找相似 |
| SJ/T 11817-2022 | 半导体光电子器件 灯丝灯用发光二极管空白详细规范 | 现行 | 2023-01-01 | 找相似 |