| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| JB/T 4107.4-1999 | 电触头材料化学分析方法 银钨中银含量的测定（碘量法） | 废止 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 4107.2-1999 | 电触头材料化学分析方法 铜钨中铜含量的测定（碘量法） | 废止 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 4107.1-1999 | 电触头材料化学分析方法 总则及一般规定 | 废止 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 8632-1997 | 电触头材料电弧烧损试验方法 | 废止 | 1997-09-05 | 1998-01-01 |
| GB/T 8320-2003 | 铜钨及银钨电触头 | 废止 | 2003-09-15 | 2004-05-01 |
| GB/T 5587-2003 | 银基电触头基本形状、尺寸、符号及标注 | 废止 | 2003-09-15 | 2004-05-01 |
| GB/T 26871-2011 | 电触头材料金相试验方法 | 废止 | 2011-07-29 | 2011-12-01 |
| T/ZZB 0254-2017 | 铆钉型电触头 | 现行 | 2017-10-13 | 2017-10-18 |
| JB/T 50081-1996 | 合金内氧化法银金属氧化物电触头 产品质量分等 | 现行 | 1996-09-03 | 1997-01-01 |
| DB63/T 1612-2017 | 含碳酸盐型石墨矿中固定碳化学分析方法硝酸处理高频红外碳硫仪法 | 现行 | 2017-12-18 | 2018-03-01 |
| T/ZZB 2283-2021 | 半导体级碳化硅单晶用超高纯石墨粉 | 现行 | 2021-08-26 | 2021-09-26 |
| T/CASAS 048-2025 | 碳化硅单晶生长用等静压石墨 | 现行 | 2025-04-23 | 2025-04-23 |
| T/CASAS 036-2025 | 碳化硅单晶生长用等静压石墨构件纯度测定方法 辉光放电质谱法 | 现行 | 2025-04-23 | 2025-04-23 |
| JC/T 2783-2023 | 石墨中碳化硅含量的测定方法 | 现行 | 2023-12-20 | 2024-07-01 |
| JC/T 2796-2023 | 碳化硅单晶用高纯石墨粉 | 现行 | 2023-12-20 | 2024-07-01 |
| SN/T 3012-2011 | 钨精矿中三氧化钨含量的测定 X射线荧光光谱法 | 现行 | 2011-09-09 | 2012-04-01 |
| SN/T 0951-2010 | 进出口仲钨酸铵中三氧化钨含量的测定 | 现行 | 2010-05-27 | 2010-12-01 |
| GB/T 15072.17-2008 | 贵金属合金化学分析方法 铂合金中钨量的测定 三氧化钨重量法 | 现行 | 2008-03-31 | 2008-09-01 |