Optical circuit boards—Part 2-1: Basic test and measurement procedures—Optical attenuation and isolation measurements
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| YY/T 0292.1-2020 | 医用诊断X射线辐射防护器具 第1部分：材料衰减性能的测定 | 现行 | 2020-02-25 | 2021-03-01 |
| GB/T 26118.3-2010 | 机械安全 机械辐射产生的风险的评价与减小 第3部分：通过衰减或屏蔽减小辐射 | 现行 | 2011-01-10 | 2011-10-01 |
| GB/T 33779.1-2017 | 光纤特性测试导则 第1部分：衰减均匀性 | 现行 | 2017-05-31 | 2017-12-01 |
| YD/T 3251.7-2018 | 移动通信分布系统无源器件 第7部分：衰减器 | 现行 | 2018-12-21 | 2019-04-01 |
| YY/T 0292.1-1997 | 医用诊断X射线辐射防护器具 第1部分:材料衰减性能的测定 | 废止 | 1997-07-30 | 1997-10-01 |
| GB/Z 117.101-2026 | 光伏组件 电势诱导衰减测试方法 第1-1部分：晶体硅组件 分层 | 现行 | 2026-01-04 | |
| YD/T 3251.7-2025 | 移动通信分布系统无源器件 第7部分：衰减器 | 现行 | 2025-07-02 | 2025-11-01 |
| GB/Z 7584.5-2026 | 声学 护听器 第5部分：通过无经验的被试佩戴评价噪声衰减的方法 | 现行 | 2026-02-27 | |
| GB/T 7584.6-2026 | 声学 护听器 第6部分：主动降噪耳罩声衰减的测定 | 即将实施 | 2026-02-27 | 2026-09-01 |
| GB/T 20870.7-2026 | 半导体器件 第16-7部分：微波集成电路 衰减器 | 即将实施 | 2026-08-28 | 2027-03-01 |
| GB/T 15972.50-2008 | 光纤试验方法规范 第50部分：环境性能的测量方法和试验程序 恒定湿热 | 现行 | 2008-04-10 | 2008-11-01 |
| GB/T 15972.22-2008 | 光纤试验方法规范 第22部分：尺寸参数的测量方法和试验程序 长度 | 现行 | 2008-03-31 | 2008-11-01 |
| GB/T 15972.21-2008 | 光纤试验方法规范 第21部分：尺寸参数的测量方法和试验程序 涂覆层几何参数 | 现行 | 2008-03-31 | 2008-11-01 |
| GB/T 15972.52-2008 | 光纤试验方法规范 第52部分：环境性能的测量方法和试验程序 温度循环 | 现行 | 2008-03-31 | 2008-11-01 |
| GB/T 15972.51-2008 | 光纤试验方法规范 第51部分: 环境性能的测量方法和试验程序 干热 | 现行 | 2008-03-31 | 2008-11-01 |
| GB/T 15972.46-2008 | 光纤试验方法规范 第46部分：传输特性和光学特性的测量方法和试验程序 透光率变化 | 现行 | 2008-03-31 | 2008-11-01 |
| GB/T 15972.53-2008 | 光纤试验方法规范 第53部分：环境性能的测量方法和试验程序 浸水 | 现行 | 2008-03-31 | 2008-11-01 |
| GB/T 21711.7-2018 | 基础机电继电器 第7部分：试验和测量程序 | 现行 | 2018-06-07 | 2019-01-01 |