Optical circuit boards—Part 2-1: Basic test and measurement procedures—Optical attenuation and isolation measurements
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 42567.3-2023 | 工业过程测量变送器试验的参比条件和程序 第3部分：温度变送器的特定程序 | 现行 | 2023-05-23 | 2023-12-01 |
| GB/T 42567.2-2023 | 工业过程测量变送器试验的参比条件和程序 第2部分：压力变送器的特定程序 | 现行 | 2023-05-23 | 2023-12-01 |
| GB/T 17213.18-2015 | 工业过程控制阀 第9部分: 阶跃输入响应测量的试验程序 | 现行 | 2015-12-10 | 2016-07-01 |
| GB/T 15972.55-2009 | 光纤试验方法规范 第55部分：环境性能的测量方法和试验程序-氢老化 | 现行 | 2009-09-30 | 2009-12-01 |
| GB/T 18271.3-2000 | 过程测量和控制装置 通用性能评定方法和程序 第3部分:影响量影响的试验 | 废止 | 2000-12-11 | 2001-05-01 |
| GB/T 18271.2-2000 | 过程测量和控制装置 通用性能评定方法和程序 第2部分:参比条件下的试验 | 废止 | 2000-12-11 | 2001-05-01 |
| GB/T 15972.54-2008 | 光纤试验方法规范 第54部分：环境性能的测量方法和试验程序 伽玛辐照 | 废止 | 2008-03-31 | 2008-11-01 |
| GB/T 15972.49-2008 | 光纤试验方法规范 第49部分：传输特性和光学特性的测量方法和试验程序-微分模时延 | 废止 | 2008-03-31 | 2008-11-01 |
| GB/T 15972.47-2008 | 光纤试验方法规范 第47部分：传输特性和光学特性的测量方法和试验程序 宏弯损耗 | 废止 | 2008-03-31 | 2008-11-01 |
| GB/T 15972.45-2008 | 光纤试验方法规范 第45部分：传输特性和光学特性的测量方法和试验程序 模场直径 | 废止 | 2008-03-31 | 2008-11-01 |
| GB/T 15972.44-2008 | 光纤试验方法规范 第44部分：传输特性和光学特性的测量方法和试验程序 截止波长 | 废止 | 2008-03-31 | 2008-11-01 |
| GB/T 15972.43-2008 | 光纤试验方法规范 第43部分：传输特性和光学特性的测量方法和试验程序 数值孔径 | 废止 | 2008-03-31 | 2008-11-01 |
| GB/T 15972.42-2008 | 光纤试验方法规范 第42部分：传输特性和光学特性的测量方法和试验程序 波长色散 | 废止 | 2008-03-31 | 2008-11-01 |
| GB/T 15972.41-2008 | 光纤试验方法规范 第41部分：传输特性和光学特性的测量方法和试验程序 带宽 | 废止 | 2008-03-31 | 2008-11-01 |
| GB/T 15972.34-2008 | 光纤试验方法规范 第34部分：机械性能的测量方法和试验程序 光纤翘曲 | 废止 | 2008-03-31 | 2008-11-01 |
| GB/T 15972.33-2008 | 光纤试验方法规范 第33部分：机械性能的测量方法和试验程序 应力腐蚀敏感性参数 | 废止 | 2008-03-31 | 2008-11-01 |
| GB/T 15972.32-2008 | 光纤试验方法规范 第32部分：机械性能的测量方法和试验程序 涂覆层可剥性 | 废止 | 2008-03-31 | 2008-11-01 |
| GB/T 15972.31-2008 | 光纤试验方法规范 第31部分：机械性能的测量方法和试验程序 抗张强度 | 废止 | 2008-03-31 | 2008-11-01 |