Surface chemical analysis—Depth profiling—Non-destructive depth profiling of nanoscale heavy metal oxide thin films on Si substrates with medium energy ion scattering
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| T/QGCML 3109-2024 | 基于深度学习产品表面缺陷识别系统 | 现行 | 2024-02-02 | 2024-02-16 |
| GB/T 36401-2018 | 表面化学分析 X射线光电子能谱 薄膜分析结果的报告 | 现行 | 2018-06-07 | 2019-05-01 |
| GB/T 36052-2018 | 表面化学分析 扫描探针显微镜数据传送格式 | 现行 | 2018-03-15 | 2019-02-01 |
| GB/T 33498-2017 | 表面化学分析纳米结构材料表征 | 现行 | 2017-02-28 | 2018-01-01 |
| GB/T 33502-2017 | 表面化学分析 X射线光电子能谱（XPS）数据记录与报告的规范要求 | 现行 | 2017-02-28 | 2018-01-01 |
| GB/T 28633-2012 | 表面化学分析 X射线光电子能谱 强度标的重复性和一致性 | 现行 | 2012-07-31 | 2013-02-01 |
| GB/T 28632-2012 | 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率测定 | 现行 | 2012-07-31 | 2013-02-01 |
| GB/T 25185-2010 | 表面化学分析 X射线光电子能谱 - 荷电控制和荷电校正方法的报告 | 现行 | 2010-09-26 | 2011-08-01 |
| GB/T 25186-2010 | 表面化学分析 二次离子质谱 - 由离子注入参考物质确定相对灵敏度因子 | 现行 | 2010-09-26 | 2011-08-01 |
| GB/T 21007-2007 | 表面化学分析 信息格式 | 现行 | 2007-07-31 | 2008-03-01 |
| GB/T 21006-2007 | 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标的线性 | 现行 | 2007-07-31 | 2008-03-01 |
| GB/T 30815-2014 | 表面化学分析分析样品的制备和安装方法指南 | 现行 | 2014-05-06 | 2015-02-01 |
| GB/T 30701-2014 | 表面化学分析 硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定 | 现行 | 2014-03-27 | 2014-12-01 |
| GB/T 30704-2014 | 表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南 | 现行 | 2014-03-27 | 2014-12-01 |
| GB/T 30702-2014 | 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 实验测定的相对灵敏度因子在均匀材料定量分析中的使用指南 | 现行 | 2014-03-27 | 2014-12-01 |
| GB/T 29731-2013 | 表面化学分析 高分辨俄歇电子能谱仪 元素和化学态分析用能量标校准 | 现行 | 2013-09-18 | 2014-06-01 |
| GB/T 28894-2012 | 表面化学分析分析前样品的处理 | 现行 | 2012-11-05 | 2013-06-01 |
| GB/T 28893-2024 | 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 测定峰强度的方法和报告结果所需的信息 | 现行 | 2024-03-15 | 2024-10-01 |