| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| JB/T 11279-2012 | 无损检测仪器 线阵列涡流探头 | 现行 | 2012-05-24 | 2012-11-01 |
| JB/T 11278-2012 | 无损检测仪器 工业X射线探伤机 通用技术条件 | 现行 | 2012-05-24 | 2012-11-01 |
| JB/T 13938-2020 | 无损检测仪器 渗透检测装置基本要求 | 现行 | 2020-04-16 | 2021-01-01 |
| JB/T 13936-2020 | 无损检测仪器 磁粉检测用磁化设备技术要求 | 现行 | 2020-04-16 | 2021-01-01 |
| JB/T 11276-2012 | 无损检测仪器 超声波探头型号命名方法 | 现行 | 2012-05-24 | 2012-11-01 |
| JB/T 11611-2013 | 无损检测仪器 涡流-磁记忆综合检测仪 | 现行 | 2013-12-31 | 2014-07-01 |
| JB/T 11259-2011 | 无损检测仪器 多频涡流检测仪 | 现行 | 2011-12-20 | 2012-04-01 |
| JB/T 11605-2013 | 无损检测仪器 金属磁记忆检测仪 技术条件 | 现行 | 2013-12-31 | 2014-07-01 |
| JB/T 11234-2011 | 无损检测仪器 工业软X射线探伤机 | 现行 | 2011-12-20 | 2012-04-01 |
| JB/T 11607-2013 | 无损检测仪器 工业用X射线轮胎检测系统 | 现行 | 2013-12-31 | 2014-07-01 |
| JB/T 11603.1-2013 | 无损检测仪器 声发射 设备特性 第1部分：设备描述 | 现行 | 2013-12-31 | 2014-07-01 |
| JB/T 6220-2011 | 无损检测仪器 射线探伤用密度计 | 现行 | 2011-12-20 | 2012-04-01 |
| JB/T 7411-2012 | 无损检测仪器 电磁轭磁粉探伤仪技术条件 | 现行 | 2012-05-24 | 2012-11-01 |
| JB/T 11603.2-2013 | 无损检测仪器 声发射 设备特性 第2部分：操作特性验证 | 现行 | 2013-12-31 | 2014-07-01 |
| JB/T 11602.1-2013 | 无损检测仪器 X射线管电压的测量和评定 第1部分： 电压分压检测 | 现行 | 2013-12-31 | 2014-07-01 |
| JB/T 5754-2011 | 无损检测仪器 单通道声发射检测仪 技术条件 | 现行 | 2011-12-20 | 2012-04-01 |
| JB/T 11609-2013 | 无损检测仪器 声振检测仪 | 现行 | 2013-12-31 | 2014-07-01 |
| JB/T 11601-2013 | 无损检测仪器 目视检测设备 | 现行 | 2013-12-31 | 2014-07-01 |