| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 15738-2008 | 导电和抗静电纤维增强塑料电阻率试验方法 | 现行 | 2008-06-30 | 2009-04-01 |
| SJ/T 10481-1994 | 硅外延层电阻率的面接触三探针方法 | 现行 | 1994-04-11 | 1994-10-01 |
| JB/T 12254-2015 | 微电机用电刷及触点电阻率试验方法 | 现行 | 2015-10-10 | 2016-03-01 |
| GB/T 26074-2010 | 锗单晶电阻率直流四探针测量方法 | 现行 | 2011-01-10 | 2011-10-01 |
| GB/T 11073-2007 | 硅片径向电阻率变化的测量方法 | 废止 | 2007-09-11 | 2008-02-01 |
| GB/T 40007-2021 | 纳米技术 纳米材料电阻率的接触式测量方法 通则 | 现行 | 2021-05-21 | 2021-12-01 |
| GB/T 12968-1991 | 纯金属电阻率与剩余电阻比涡流衰减测量方法 | 现行 | 1991-06-04 | 1992-03-01 |
| GB/T 351-2019 | 金属材料 电阻率测量方法 | 现行 | 2019-03-25 | 2020-02-01 |
| GB/T 3048.3-2007 | 电线电缆电性能试验方法 第3部分：半导电橡塑材料体积电阻率试验 | 现行 | 2007-12-03 | 2008-05-01 |
| GB/T 11073-2025 | 硅片径向电阻率变化测量方法 | 即将实施 | 2025-10-31 | 2026-05-01 |
| T/CSTM 00252-2020 | 碳纤维体积电阻率试验方法 四探针法 | 现行 | 2020-07-24 | 2020-10-24 |
| T/IAWBS 013-2019 | 半绝缘碳化硅单晶片电阻率非接触测量方法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| T/IAWBS 011-2019 | 导电碳化硅单晶片电阻率测量方法—非接触涡流法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| GB/T 47406-2026 | 碳纤维增强复合材料体积电阻率试验方法 | 即将实施 | ||
| GB/T 41708-2022 | 玻璃熔体电阻率试验方法（外文版EN） | 现行 | 2024-04-12 | |
| SJ/T 11487-2015 | 半绝缘半导体晶片电阻率的无接触测量方法 | 现行 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| SY/T 5385-2007 | 岩石电阻率参数实验室测量及计算方法 | 废止 | 2007-10-08 | 2008-03-01 |
| YS/T 63.2-2006 | 铝用碳素材料检测方法 第2部分：阴极炭块和预焙阳极 室温电阻率的测定 | 废止 | 2006-03-07 | 2006-08-01 |