Vitreous and porcelain enamels—Low voltage test for detecting and locating defects
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| DB34/T 2975-2017 | 钢制厚壁管道环向对接焊缝内部缺陷 无损检测规程 | 废止 | 2017-10-15 | —— |
| GB/T 30020-2023 | 玻璃缺陷检测方法 光弹扫描法 | 现行 | 2023-10-01 | 找相似 |
| GB/T 45575-2025 | 工业产品表面缺陷自动检测系统技术要求 | 现行 | 2025-11-01 | 找相似 |
| NY/T 2695-2015 | 牛遗传缺陷基因检测技术规程 | 现行 | 2015-05-01 | 找相似 |
| GB/T 1979-2025 | 结构钢低倍组织缺陷评定 酸浸法和超声检测法 | 即将实施 | 2026-03-01 | 找相似 |
| GB/T 40067-2021 | 碳化钨粉末微观组织及缺陷检测方法 | 现行 | 2021-12-01 | 找相似 |
| DL/T 5251-2024 | 水工混凝土建筑物缺陷检测和评估技术规程 | 现行 | 2025-03-24 | 找相似 |
| DB36/T 1969-2024 | 公路工程混凝土结构缺陷冲击弹性波法检测技术规程 | 现行 | 2024-11-01 | 找相似 |
| GB/T 43493.1-2023 | 半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第1部分：缺陷分类 | 现行 | 2024-07-01 | 找相似 |
| GB/T 43493.2-2023 | 半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第2部分：缺陷的光学检测方法 | 现行 | 2024-07-01 | 找相似 |
| GB/T 43493.3-2023 | 半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第3部分：缺陷的光致发光检测方法 | 现行 | 2024-07-01 | 找相似 |
| DB36/T 2195-2025 | 隧道衬砌混凝土缺陷冲击回波声频法检测技术规程 | 现行 | 2026-07-01 | 找相似 |
| GB/T 24300-2009 | 铜钨电触头缺陷检测方法 | 废止 | 2010-02-01 | 找相似 |
| GB/T 11346-2018 | 铝合金铸件射线照相检测缺陷分级 | 现行 | 2018-08-01 | 找相似 |
| DB32/T 4093-2021 | 增材制造 金属制件孔隙缺陷检测 工业计算机层析成像(CT)法 | 现行 | 2021-10-03 | 找相似 |
| DB63/T1781-2020 | 电站现场晶体硅太阳能电池组件隐性缺陷检测技术规范 | 现行 | 2020-05-01 | 找相似 |
| YY 1727-2020 | 口腔黏膜渗出液人类免疫缺陷病毒抗体检测试剂盒（胶体金免疫层析法） | 现行 | 2022-06-01 | 找相似 |
| YY/T 1526-2017 | 人类免疫缺陷病毒抗原抗体联合检测试剂盒（发光类） | 现行 | 2018-04-01 | 找相似 |