Non-destructive testing - Image quality of radiographs - Part 1: Image quality indicators (wire type) - Determination of image quality value
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 27664.1-2011 | 无损检测 超声检测设备的性能与检验 第1部分：仪器 | 废止 | 2012-05-01 | 找相似 |
| GB/T 18329.4-2021 | 滑动轴承 多层金属滑动轴承 第4部分: 合金厚度≥0.3mm的结合质量超声穿透无损检测 | 现行 | 2021-10-01 | 找相似 |
| DL/T 1105.3-2020 | 电站锅炉集箱小口径接管座角焊缝 无损检测技术导则 第3部分：涡流检测 | 现行 | 2021-02-01 | 找相似 |
| TB/T 1558.4-2018 | 机车车辆焊缝无损检测 第4部分：磁粉检测 | 现行 | 2019-03-01 | 找相似 |
| TB/T 1558.5-2018 | 机车车辆焊缝无损检测 第5部分：渗透检测 | 现行 | 2019-03-01 | 找相似 |
| NB/T 20003.1-2021 | 核电厂核岛机械设备无损检测 第1部分：通用要求 | 现行 | 2021-07-01 | 找相似 |
| TB/T 1558.2-2018 | 机车车辆焊缝无损检测 第2部分：超声检测 | 现行 | 2019-03-01 | 找相似 |
| GB/T 34370.8-2020 | 游乐设施无损检测 第8部分：声发射检测 | 现行 | 2021-06-01 | 找相似 |
| GB/T 43493.1-2023 | 半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第1部分：缺陷分类 | 现行 | 2024-07-01 | 找相似 |
| GB/T 43493.2-2023 | 半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第2部分：缺陷的光学检测方法 | 现行 | 2024-07-01 | 找相似 |
| GB/T 43493.3-2023 | 半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第3部分：缺陷的光致发光检测方法 | 现行 | 2024-07-01 | 找相似 |
| GB/T 42399.3-2023 | 无损检测仪器 相控阵超声设备的性能与检验 第3部分：组合系统 | 现行 | 2023-10-01 | 找相似 |
| GB/T 42399.1-2023 | 无损检测仪器 相控阵超声设备的性能与检验 第1部分：仪器 | 现行 | 2023-10-01 | 找相似 |
| GB/T 42399.2-2023 | 无损检测仪器 相控阵超声设备的性能与检验 第2部分：探头 | 现行 | 2023-10-01 | 找相似 |
| GB/T 27664.2-2011 | 无损检测 超声检测设备的性能与检验 第2部分：探头 | 废止 | 2012-05-01 | 找相似 |
| JB/T 11603.1-2013 | 无损检测仪器 声发射 设备特性 第1部分：设备描述 | 现行 | 2014-07-01 | 找相似 |
| GB/T 19799.3-2025 | 无损检测 超声检测试块 第3部分：曲面检测标准试块 | 现行 | 2025-01-24 | 找相似 |
| JB/T 11603.2-2013 | 无损检测仪器 声发射 设备特性 第2部分：操作特性验证 | 现行 | 2014-07-01 | 找相似 |