Precision of test methods--Check the acceptability of test results obtained under repeatability or reproducibility conditions and to determine final test results
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 39688-2020 | 陶瓷涂层密度的测试方法 | 现行 | 2021-07-01 | 找相似 |
| T/REIANM 0303-2022 | 烧结钕铁硼永磁合金粉 密度的测试方法：第2部分：振实密度的测定 | 现行 | 2022-07-04 | —— |
| T/REIANM 0302-2022 | 烧结钕铁硼永磁合金粉 密度的测试方法：第1部分：松装密度的测定 | 现行 | 2022-07-04 | —— |
| T/IAWBS 014-2021 | 碳化硅单晶抛光片位错密度的测试方法 | 现行 | 2021-09-22 | —— |
| T/IAWBS 012-2019 | 碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度测试方法 ——共焦点微分干涉光学法 | 现行 | 2019-12-31 | —— |
| T/SBX 028-2019 | TFT混合液晶密度测试方法 | 现行 | 2020-02-01 | —— |
| QB/T 1642-2012 | 陶瓷坯体显气孔率、体积密度测试方法 | 现行 | 2013-06-01 | 找相似 |
| QB/T 1642-1992 | 陶瓷坯体显气孔率、体积密度测试方法 | 废止 | 1993-09-01 | 找相似 |
| JB/T 9141.1-1999 | 柔性石墨板材 密度测试方法 | 废止 | 2000-01-01 | 找相似 |
| DB44/T 1555-2015 | 高密度印制电路板的互连应力测试方法 [广东省] | 废止 | 2015-06-26 | 找相似 |
| T/IAWBS 012-2019 | 碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度测试方法 ——共焦点微分干涉光学法 | 现行 | 2019-12-31 | —— |
| T/SBX 028-2019 | TFT混合液晶密度测试方法 | 现行 | 2020-02-01 | —— |
| T/CCSA 529-2024 | 高密度数据中心设计要求和测试方法 | 现行 | 2024-10-01 | —— |
| GB/T 8987-2008 | 缩微摄影技术 缩微摄影时检查负像光学密度用测试标板 | 现行 | 2009-01-01 | 找相似 |
| GB/T 31057.2-2018 | 颗粒材料 物理性能测试 第2部分：振实密度的测量 | 现行 | 2019-07-01 | 找相似 |
| DL/T 1694.10-2024 | 高压测试仪器及设备校准规范 第10部分：六氟化硫密度控制器校验仪 | 现行 | 2025-06-25 | 找相似 |
| DL/T 5270-2020 | 核子法密度及含水量测试规程 | 现行 | 2021-02-01 | 找相似 |
| JB/T 8261-2015 | 静电复印网线及密度不均匀性测试版 A3 | 现行 | 2015-10-01 | 找相似 |