薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法

Method of thickness measurement for thin crystal by convergent beam electron diffraction

GB/T 20724-2006推荐性国家标准

废止

GB/T 20724-2006 相似标准 第3页

更新时间 2026-10-25
标准号标准名称状态实施日期相似标准
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GB/T 37054-2018纳米技术 纳米二氧化钛中锐钛矿型与金红石型比率测定 X射线衍射法现行2018-12-28找相似
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SH/T 0625-1995硅铝催化剂中γ-Al2O3含量测定法(X射线衍射法)现行1995-12-01找相似
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T/CASAS 014-2021碳化硅衬底基平面弯曲的测定 高分辨X射线衍射法现行2021-12-01——
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YS/T 976-2014煅烧α型氧化铝中α-Al2O3含量的测定 X-射线衍射法现行2015-04-01找相似
YS/T 1160-2016工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法现行2017-01-01找相似
HG/T 6149-2023加氢催化剂及其载体中二氧化硅晶相含量的测定 X射线衍射法现行2023-11-01找相似
HG/T 5595-2019烯烃聚合催化剂粒度分布的测定 激光衍射法现行2020-07-01找相似
GB/T 20170.1-2026稀土金属及其化合物物理性能测试方法 第1部分:稀土化合物粒度分布的测定 激光衍射法即将实施2026-12-01找相似