| GB/T 12690.12-2003 | 稀土金属及其氧化物中非稀土杂质化学分析方法 钍量的测定 偶氮胂III分光光度法和电感耦合等离子体质谱法 | 废止 | 2004-06-01 | 找相似 |
| GB/T 12690.15-2006 | 稀土金属及其氧化物中非稀土杂质化学分析方法 钙量的测定 | 废止 | 2006-10-01 | 找相似 |
| GB/T 18802.331-2007 | 低压电涌保护器元件 第331部分：金属氧化物压敏电阻（MOV）规范 | 废止 | 2008-02-01 | 找相似 |
| GB/T 13397-2008 | 合金内氧化法银金属氧化物电触头技术条件 | 废止 | 2008-12-01 | 找相似 |
| GB/T 12690.1-2015 | 稀土金属及其氧化物中非稀土杂质化学分析方法 第1部分：碳、硫量的测定 高频-红外吸收法 | 废止 | 2016-04-01 | 找相似 |
| GB/T 32996-2016 | 表面化学分析 辉光放电发射光谱法分析金属氧化物膜 | 废止 | 2017-09-01 | 找相似 |
| GB/T 18115.6-2006 | 稀土金属及其氧化物中稀土杂质化学分析方法 铕中镧、铈、镨、钕、钐、钆、铽、镝、钬、铒、铥、镱、镥和钇量的测定 | 废止 | 2006-10-01 | 找相似 |
| GB/T 18115.4-2006 | 稀土金属及其氧化物中稀土杂质化学分析方法 钕中镧、铈、镨、钐、铕、钆、铽、镝、钬、铒、铥、镱、镥和钇量的测定 | 废止 | 2006-10-01 | 找相似 |
| GB/T 18115.2-2006 | 稀土金属及其氧化物中稀土杂质化学分析方法 铈中镧、镨、钕、钐、铕、钆、铽、镝、钬、铒、铥、镱、镥和钇量的测定 | 废止 | 2006-10-01 | 找相似 |
| GB/T 18115.1-2006 | 稀土金属及其氧化物中稀土杂质化学分析方法 镧中铈、镨、钕、钐、铕、钆、铽、镝、钬、铒、铥、镱、镥和钇量的测定 | 废止 | 2006-10-01 | 找相似 |
| DB36/T 688-2012 | 富钇氧化物及其金属化学分析方法 十五个稀土元素氧化物配分量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法 [江西省] | 废止 | 2012-11-01 | 找相似 |
| GB/T 46789-2025 | 半导体器件 金属氧化物半导体场效应晶体管（MOSFETs）的可动离子试验 | 即将实施 | 2026-07-01 | 找相似 |
| T/CASAS 006-2020 | 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管通用技术规范 | 现行 | 2021-01-01 | —— |
| T/CPCIF 0033-2020 | 绿色设计产品评价技术规范金属氧化物混相颜料 | 现行 | 2020-09-30 | —— |
| T/CECA 35-2019 | 金属氧化物半导体气体传感器 | 现行 | 2020-01-28 | —— |
| T/CECA 27-2017 | 有可靠性指标的金属氧化物压敏电阻器总规范 | 现行 | 2019-05-11 | —— |
| T/ACREI CREIS54002-2018 | 稀土产品成分分析质量控制技术规范—第2部分·单一稀土金属及其氧化物成分分析 | 现行 | 2017-04-24 | —— |
| JB/T 50081-1996 | 合金内氧化法银金属氧化物电触头 产品质量分等 | 现行 | 1997-01-01 | 找相似 |