| GB/T 5095.6-1997 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第6部分:气候试验和锡焊试验 | 现行 | 1998-10-01 | 找相似 |
| GB/T 5095.11-1997 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第11部分:气候试验 | 现行 | 1998-10-01 | 找相似 |
| GB/T 5095.4-1997 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第4部分:动态应力试验 | 现行 | 1998-10-01 | 找相似 |
| GB/T 5095.2-1997 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第2部分:一般检查、电连续性和接触电阻测试、绝缘试验和电压应力试验 | 现行 | 1998-10-01 | 找相似 |
| GB/T 14048.17-2008 | 低压开关设备和控制设备 第5-4部分：控制电路电器和开关元件 小容量触头的性能评定方法 特殊试验 | 现行 | 2009-10-01 | 找相似 |
| GB/T 5095.2303-2021 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-3部分：屏蔽和滤波试验试验23c：连接器和附件的屏蔽效果 线注入法 | 现行 | 2021-10-01 | 找相似 |
| GB/T 5095.2505-2021 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-5部分：试验25e：回波损耗 | 现行 | 2021-10-01 | 找相似 |
| GB/T 5095.2507-2021 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-7部分：试验25g：阻抗、反射系数和电压驻波比（VSWR） | 现行 | 2021-10-01 | 找相似 |
| GB/T 5095.2502-2021 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分：试验25b：衰减（插入损耗） | 现行 | 2021-10-01 | 找相似 |
| GB/T 5095.2307-2021 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-7部分：屏蔽和滤波试验试验23g：连接器的有效转移阻抗 | 现行 | 2021-10-01 | 找相似 |
| GB/T 5095.2304-2021 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-4部分：屏蔽和滤波试验试验23d：时域内传输线的反射 | 现行 | 2021-10-01 | 找相似 |
| GB/T 5095.2501-2021 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-1部分：试验25a：串扰比 | 现行 | 2021-10-01 | 找相似 |
| GB/T 5095.2504-2021 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-4部分：试验25d：传输时延 | 现行 | 2021-10-01 | 找相似 |
| GB/T 5095.2503-2021 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分：试验25c：上升时间衰减 | 现行 | 2021-10-01 | 找相似 |
| GB/T 5095.2506-2020 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-6部分：试验25f：眼图和抖动 | 现行 | 2020-11-01 | 找相似 |
| GB/T 5095.2509-2020 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-9部分：信号完整性试验试验25i：外来串扰 | 现行 | 2020-11-01 | 找相似 |
| JB/T 10469.2-2020 | 冶金设备气动盘式制动器 第2部分：常闭型 | 现行 | 2021-01-01 | 找相似 |
| JB/T 10469.1-2020 | 冶金设备气动盘式制动器 第1部分：常开型 | 现行 | 2021-01-01 | 找相似 |