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GB/T 5095.7-1997
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电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第7部分:机械操作试验和密封性试验 |
现行 |
1998-10-01 |
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GB/T 5095.5-1997
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电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第5部分:撞击试验(自由元件)、静负荷试验(固定元件)、寿命试验和过负荷试验 |
现行 |
1998-10-01 |
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GB/T 5095.12-1997
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电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第12部分:锡焊试验 第六篇:试验12f在机器焊接中封焊处耐焊剂和清洁剂 |
现行 |
1998-10-01 |
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GB/T 5095.8-1997
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电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第8部分:连接器、接触件及引出端的机械试验 |
现行 |
1998-10-01 |
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GB/T 5095.15-1997
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电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第15部分:接触件和引出端的机械试验 第八篇:试验15h接触件固定机构耐工具使用性 |
现行 |
1998-10-01 |
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GB/T 5095.9-1997
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电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第9部分:杂项试验 |
现行 |
1998-10-01 |
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GB/T 5095.3-1997
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电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第3部分:载流容量试验 |
现行 |
1998-10-01 |
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GB/T 5095.6-1997
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电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第6部分:气候试验和锡焊试验 |
现行 |
1998-10-01 |
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GB/T 5095.11-1997
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电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第11部分:气候试验 |
现行 |
1998-10-01 |
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GB/T 5095.4-1997
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电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第4部分:动态应力试验 |
现行 |
1998-10-01 |
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GB/T 5095.2-1997
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电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第2部分:一般检查、电连续性和接触电阻测试、绝缘试验和电压应力试验 |
现行 |
1998-10-01 |
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GB/T 4210-2015
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电工术语 电子设备用机电元件 |
现行 |
2016-04-01 |
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GB/T 5095.2303-2021
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电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-3部分：屏蔽和滤波试验 试验23c：连接器和附件的屏蔽效果 线注入法 |
现行 |
2021-10-01 |
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GB/T 5095.2505-2021
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电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-5部分：试验25e：回波损耗 |
现行 |
2021-10-01 |
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GB/T 5095.2507-2021
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电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-7部分：试验25g：阻抗、反射系数和电压驻波比（VSWR） |
现行 |
2021-10-01 |
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GB/T 5095.2502-2021
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电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分：试验25b：衰减（插入损耗） |
现行 |
2021-10-01 |
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GB/T 5095.2307-2021
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电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-7部分：屏蔽和滤波试验 试验23g：连接器的有效转移阻抗 |
现行 |
2021-10-01 |
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GB/T 5095.2304-2021
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电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-4部分：屏蔽和滤波试验 试验23d：时域内传输线的反射 |
现行 |
2021-10-01 |
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