| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| DB34/T 2872-2017 | 机械密封用反应烧结碳化硅陶瓷密封件 [安徽省] | 废止 | 2017-07-30 | 找相似 |
| GB 7327-1987 | 交流系统用碳化硅阀式避雷器 | 废止 | 1987-10-01 | 找相似 |
| GB 11527-1989 | 车间空气中碳化硅粉尘卫生标准 | 废止 | 1990-02-01 | 找相似 |
| GB/T 3045-2003 | 普通磨料 碳化硅化学分析方法 | 废止 | 2004-04-01 | 找相似 |
| GB/T 2480-2008 | 普通磨料 碳化硅 | 废止 | 2009-01-01 | 找相似 |
| GB/T 7327-2008 | 交流系统用碳化硅阀式避雷器 | 废止 | 2009-03-01 | 找相似 |
| GB/T 30656-2014 | 碳化硅单晶抛光片 | 废止 | 2015-09-01 | 找相似 |
| GB/T 3045-2017 | 普通磨料 碳化硅化学分析方法 | 废止 | 2018-07-01 | 找相似 |
| T/SAS 0008-2020 | 轻量化碳化硅反射镜 | 现行 | 2021-01-01 | —— |
| T/SAS 0009-2020 | 轻量化碳化硅反射镜镜坯 | 现行 | 2021-01-01 | —— |
| T/CASAS 006-2020 | 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管通用技术规范 | 现行 | 2021-01-01 | —— |
| T/CFA 0202050104-2-2016 | 铸造熔炼用碳化硅 技术条件 | 现行 | 2017-01-31 | —— |
| T/CASAS 007-2020 | 电动汽车用碳化硅（SiC）场效应晶体管（MOSFET）模块评测规范 | 现行 | 2020-05-25 | —— |
| T/IAWBS 010-2019 | 碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度检测方法-激光散射检测法 | 现行 | 2019-12-31 | —— |
| T/IAWBS 011-2019 | 导电碳化硅单晶片电阻率测量方法—非接触涡流法 | 现行 | 2019-12-31 | —— |
| T/IAWBS 012-2019 | 碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度测试方法 ——共焦点微分干涉光学法 | 现行 | 2019-12-31 | —— |
| T/IAWBS 013-2019 | 半绝缘碳化硅单晶片电阻率非接触测量方法 | 现行 | 2019-12-31 | —— |
| T/CASAS 001-2018 | 碳化硅肖特基势垒二极管通用技术规范 | 现行 | 2018-09-21 | —— |