激光用非线性光学晶体元件性能测量方法(外文版EN)

Non-linear optical crystal devices measuring method for laser

GB/T 22453-2025推荐性国家标准

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GB/T 22453-2025 相似标准 第4页

更新时间 2026-10-25
标准号标准名称状态发布日期实施日期
SJ/T 11212-1999石英晶体元件参数的测量 第6部分:激励电平相关性(DLD)的测量现行1999-08-261999-12-01
SJ/T 10015-201310kHz~200kHz音叉石英晶体元件的测试方法和标准值现行2013-10-172013-12-01
SJ/T 10015-1991JU38和JU26型钟表用32KHZ音叉石英晶体元件废止1991-04-081991-07-01
GB/T 12273-1996石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范 第1部分:总规范废止1996-09-091997-05-01
GB/T 22319.8-2025石英晶体元件参数的测量 第8部分:表面贴装石英晶体元件用测量夹具即将实施2025-12-312026-07-01
T/CECA 99-2024汽车用石英晶体元件可靠性试验现行2024-07-232024-08-01
GB/T 5730-1985电子设备用固定电阻器 第二部分:分规范 低功率非线绕固定电阻器 (可供认证用)现行1985-11-261986-09-01
GB/T 5731-1985电子设备用固定电阻器 第二部分:空白详细规范 低功率非线绕固定电阻器 评定水平E(可供认证用)现行1985-11-261986-09-01
GB/T 16515-2023电子设备用电位器 第5部分:分规范 单圈旋转低功率线绕和非线绕电位器现行2023-09-072024-01-01
SJ/T 10617-2017电子元器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器RT13型碳膜固定电阻器 评定水平E现行2017-11-072018-01-01
SJ/T 10872-2000电子元器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器RJ15型金属膜固定电阻器 评定水平E现行2000-08-162000-10-01
SJ/T 10774-2017电子元器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器RT14型碳膜固定电阻器 评定水平E现行2017-11-072018-01-01
SJ/T 10775-2013电子元器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器RJ14型金属膜固定电阻器 评定水平E现行2013-10-172013-12-01
SJ/T 11113-2013电子元器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器RJ13型金属膜固定电阻器 评定水平E现行2013-10-172013-12-01
SJ/T 10774-2000电子元器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器RT14型碳膜固定电阻器 评定水平E废止2000-08-162000-10-01
SJ/T 10775-2000电子元器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器RJ14型金属膜固定电阻器 评定水平E废止2000-08-162000-10-01
SJ/T 11113-1999电子元器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器RJ13型金属膜固定电阻器 评定水平E废止1999-08-261999-12-01
GB/T 16515-1996电子设备用电位器 第5部分:分规范 单圈旋转式低功率线绕和非线绕电位器废止1996-09-091997-05-01