Microbeam analysis—Method of thickness measurement for thin crystals by convergent beam electron diffraction
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 20724-2021 | 微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法 | 现行 | 2021-12-31 | 2022-07-01 |
| GB/T 20724-2006 | 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法 | 废止 | 2006-12-25 | 2007-08-01 |
| GB/T 43748-2024 | 微束分析 透射电子显微术 集成电路芯片中功能薄膜层厚度的测定方法 | 现行 | 2024-03-15 | 2024-10-01 |
| GB/T 47182-2026 | 微束分析分析电子显微术 核壳颗粒壳壁厚度的测量方法 | 即将实施 | 2026-02-27 | 2026-09-01 |
| GB/T 43088-2023 | 微束分析分析电子显微术 金属薄晶体试样中位错密度的测定方法 | 现行 | 2023-09-07 | 2024-04-01 |
| GB/T 43610-2023 | 微束分析分析电子显微术 线状晶体表观生长方向的透射电子显微术测定方法 | 现行 | 2023-12-28 | 2024-07-01 |
| GB/T 17722-2026 | 微束分析 金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法 | 即将实施 | 2026-01-28 | 2026-08-01 |
| GB/T 17366-2025 | 微束分析电子探针显微分析 矿物岩石试样的制备方法 | 即将实施 | 2025-08-29 | 2026-03-01 |
| GB/T 17361-2013 | 微束分析 沉积岩中自生粘土矿物鉴定 扫描电子显微镜及能谱仪方法 | 现行 | 2013-07-19 | 2014-03-01 |
| GB/T 34172-2017 | 微束分析电子背散射衍射 金属及合金的相分析方法 | 现行 | 2017-09-07 | 2018-08-01 |
| GB/T 23414-2009 | 微束分析 扫描电子显微术 术语 | 废止 | 2009-04-01 | 2009-12-01 |
| GB/T 43749-2024 | 微束分析电子探针显微分析 无水碳酸盐矿物的定量分析方法 | 现行 | 2024-03-15 | 2024-10-01 |
| GB/T 33838-2017 | 微束分析 扫描电子显微术 图像锐度评估方法 | 现行 | 2017-05-31 | 2018-04-01 |
| GB/T 17365-2025 | 微束分析 金属与合金电子探针定量分析试样的制备方法 | 现行 | 2025-03-28 | 2025-10-01 |
| GB/T 32055-2015 | 微束分析电子探针显微分析 波谱法元素面分析 | 现行 | 2015-10-09 | 2016-09-01 |
| GB/T 30705-2014 | 微束分析电子探针显微分析 波谱法实验参数测定导则 | 现行 | 2014-03-27 | 2014-12-01 |
| GB/T 30703-2014 | 微束分析电子背散射衍射取向分析方法导则 | 现行 | 2014-03-27 | 2014-12-01 |
| GB/T 41076-2021 | 微束分析电子背散射衍射 钢中奥氏体的定量分析 | 现行 | 2021-12-31 | 2022-07-01 |