硅片径向电阻率变化测量方法

Test method for measuring radial resistivity variation on silicon wafers

GB/T 11073-2025推荐性国家标准

即将实施

上传时间:2026-03-21
格式:pdf

GB/T 11073-2025 相似标准 第10页

更新时间 2026-10-25
标准号标准名称状态发布日期实施日期
JJG 988-2004立式金属罐径向偏差测量仪现行2004-09-212004-12-21
GB/T 7235-2004产品几何量技术规范(GPS) 评定圆度误差的方法 半径变化量测量现行2004-11-112005-07-01
GB/T 18311.3-2001纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第3-3部分:检查和测量 监测衰减和回波损耗变化(多路)现行2001-02-132001-08-01
GB/T 13490-2006V带 带的均匀性 测量中心距变化量的试验方法现行2006-09-012007-02-01
GB/T 15972.46-2008光纤试验方法规范 第46部分:传输特性和光学特性的测量方法和试验程序 透光率变化现行2008-03-312008-11-01
GB/T 18310.22-2003纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-22部分:试验 温度变化现行2003-11-242004-08-01
GB/T 17626.34-2012电磁兼容 试验和测量技术 主电源每相电流大于16A的设备的电压暂降、短时中断和电压变化抗扰度试验现行2012-06-292012-09-01
GB/T 17626.11-2023电磁兼容 试验和测量技术 第11部分:对每相输入电流小于或等于16 A设备的电压暂降、短时中断和电压变化抗扰度试验现行2023-05-232024-06-01
GB/T 17626.28-2006电磁兼容 试验和测量技术 工频频率变化抗扰度试验现行2006-12-012007-07-01
GB/T 17626.29-2006电磁兼容 试验和测量技术 直流电源输入端口电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验现行2006-12-192007-09-01
GB/T 17626.11-1999电磁兼容 试验和测量技术 电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验废止1999-09-132000-06-01
GB/T 17626.11-2008电磁兼容 试验和测量技术 电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验废止2008-05-202009-01-01
GB/T 8628-2013纺织品 测定尺寸变化的试验中织物试样和服装的准备、标记及测量现行2013-12-172014-10-15
GB/T 40523.1-2021船舶与海上技术 船体和螺旋桨性能变化测量 第1部分:总则现行2021-08-202022-03-01
GB/T 40523.2-2021船舶与海上技术 船体和螺旋桨性能变化测量 第2部分:默认方法现行2021-08-202022-03-01
GB/T 40523.3-2021船舶与海上技术 船体和螺旋桨性能变化测量 第3部分:替代方法现行2021-08-202022-03-01
GB/T 26067-2010硅片切口尺寸测试方法现行2011-01-102011-10-01
GB/T 32279-2015硅片订货单格式输入规范现行2015-12-102017-01-01