| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 12968-1991 | 纯金属电阻率与剩余电阻比涡流衰减测量方法 | 现行 | 1991-06-04 | 1992-03-01 |
| GB/T 351-2019 | 金属材料 电阻率测量方法 | 现行 | 2019-03-25 | 2020-02-01 |
| T/IAWBS 013-2019 | 半绝缘碳化硅单晶片电阻率非接触测量方法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| T/IAWBS 011-2019 | 导电碳化硅单晶片电阻率测量方法—非接触涡流法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| SJ/T 11487-2015 | 半绝缘半导体晶片电阻率的无接触测量方法 | 现行 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| SY/T 5385-2007 | 岩石电阻率参数实验室测量及计算方法 | 废止 | 2007-10-08 | 2008-03-01 |
| SY/T 6712-2008 | 岩样复电阻率实验室测量方法 | 废止 | 2008-06-16 | 2008-12-01 |
| SY/T 6063-1994 | 埋地钢质管道防腐绝层电阻率现场测量技术规定 | 废止 | 1995-01-18 | 1995-07-01 |
| SY/T 5385-1991 | 岩石电阻率参数实验室测量及计算方法 | 废止 | 1991-07-19 | 1991-02-01 |
| GB/T 19289-2003 | 电工钢片(带)的密度、电阻率和叠装系数的测量方法 | 废止 | 2003-09-12 | 2004-04-01 |
| T/IAWBS 011-2019 | 导电碳化硅单晶片电阻率测量方法—非接触涡流法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| T/IAWBS 013-2019 | 半绝缘碳化硅单晶片电阻率非接触测量方法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| GB/T 41606-2022 | 钛酸钡基高抗电强度低电阻率热敏陶瓷 | 现行 | 2022-07-11 | 2023-02-01 |
| MT/T 781-1998 | 高分辨自动地电阻率仪通用技术条件 | 现行 | 1998-11-10 | 1999-04-01 |
| DL／T 846.14-2023 | 高电压测试设备通用技术条件 第14部分：绝缘油介质损耗因数及体积电阻率测试仪 | 现行 | 2023-05-26 | 2023-11-26 |
| DB/T 33.1-2009 | 地震地电观测方法 地电阻率观测 第1部分：单极距观测 | 现行 | 2009-02-09 | 2009-06-01 |
| DB/T 29.1-2008 | 地震观测仪器进网技术要求 地电观测仪 第1部分：直流地电阻率仪 | 现行 | 2008-08-11 | 2008-12-01 |
| DB/T 18.1-2006 | 地震台站建设规范 地电观测台站 第1部分：地电阻率台站 | 现行 | 2006-02-20 | 2006-05-01 |