| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 25097-2010 | 绝缘体带电清洗剂 | 现行 | 2010-09-02 | 2011-02-01 |
| GB/T 22709-2008 | 架空线路玻璃或瓷绝缘子串元件绝缘体机械破损后的残余强度 | 现行 | 2008-12-30 | 2009-10-01 |
| JB/T 9588.4-1999 | 火花塞瓷绝缘体试验方法 高温绝缘电阻试验方法 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 9588.1-1999 | 火花塞瓷绝缘体试验方法 外观与尺寸试验方法 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 9588.6-1999 | 火花塞瓷绝缘体试验方法 冲击强度试验方法 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 3083-1993 | 火花塞绝缘体用高铝瓷材料技术条件 | 现行 | 1993-08-21 | 1993-10-01 |
| JB/T 9588.5-1999 | 火花塞瓷绝缘体试验方法 耐冷热急变性能试验方法 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 9588.2-1999 | 火花塞瓷绝缘体试验方法 耐电压试验方法 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 9587-1999 | 火花塞瓷绝缘体技术条件 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 9588.3-1999 | 火花塞瓷绝缘体试验方法 体积密度试验方法 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| YS/T 839-2012 | 硅衬底上绝缘体薄膜厚度及折射率的椭圆偏振测试方法 | 现行 | 2012-11-07 | 2013-03-01 |
| JC/T 2349-2015 | 多晶硅生产用氮化硅陶瓷绝缘体 | 现行 | 2015-07-14 | 2016-01-01 |
| GB/T 25098-2010 | 绝缘体带电清洗剂使用导则 | 现行 | 2010-09-02 | 2011-02-01 |
| DL/T 2997-2025 | 绝缘体带电清洗剂 | 即将实施 | 2025-12-18 | 2026-06-18 |
| QC/T 431-2013 | 火花塞瓷绝缘体技术条件 | 现行 | 2013-04-25 | 2013-09-01 |