| T/ZJBDT 001.2-2025 | 新型非易失性存储芯片（磁随机存储芯片、相变存储芯片、阻变存储芯片）存储性及可靠性测试方法 第2部分：磁随机存储芯片测试 | 现行 | 2025-01-10 | 2025-01-10 |
| SJ/T 12040-2025 | 数字芯片设计一致性验证方法 | 现行 | 2025-09-09 | 2026-03-01 |
| SJ/T 12039-2025 | 模数混合芯片设计一致性验证方法 | 现行 | 2025-09-09 | 2026-03-01 |
| SJ/T 12038-2025 | 模拟芯片设计一致性验证方法 | 现行 | 2025-09-09 | 2026-03-01 |
| SJ/T 12037-2025 | 人工智能芯片 云侧训练用深度学习芯片测试指标与测试方法 | 现行 | 2025-09-09 | 2026-03-01 |
| SJ/T 12036-2025 | 人工智能芯片 云侧推理用深度学习芯片测试指标与测试方法 | 现行 | 2025-09-09 | 2026-03-01 |
| SJ/T 12035-2025 | 人工智能芯片 端侧深度学习芯片测试指标与测试方法 | 现行 | 2025-09-09 | 2026-03-01 |
| SJ/T 12034-2025 | 人工智能芯片 边缘侧深度学习芯片测试指标与测试方法 | 现行 | 2025-09-09 | 2026-03-01 |
| GB/T 47879-2026 | 塑料 快速差示扫描量热（FSC）法 芯片量热法 | 即将实施 | 2026-07-02 | 2027-02-01 |
| SJ/T 11856.5-2025 | 光纤通信用半导体激光器芯片技术规范 第5部分：单模泵浦用半导体激光器芯片 | 现行 | 2025-12-19 | 2026-07-01 |
| SJ/T 12073-2025 | 100G相干光通信用硅光集成芯片技术规范 | 现行 | 2025-12-19 | 2026-07-01 |
| SJ/T 12074-2025 | 光通信用硅基光电子芯片晶圆级测试方法 | 现行 | 2025-12-19 | 2026-07-01 |
| SJ/T 12076-2025 | 硅基光电子芯片封装设计导则 | 现行 | 2025-12-19 | 2026-07-01 |
| YD/T 6868-2026 | 安全芯片非入侵式攻击缓解方法 | 即将实施 | 2026-04-15 | 2026-08-01 |
| Q/GDW 11179.11-2015 | 电能表用元器件技术规范 第11部分：串口通信协议RS-485芯片 | 现行 | 2016-01-05 | 2016-01-05 |