主要技术内容
本文件描述了磁随机存储芯片存储性及可靠性测试方法的术语、测试要求、测试设备、测试条件、测试程序等。本文件适用于实现磁随机存储芯片的存储性及可靠性验证。
现行
2025-01-10
2025-01-10
T/ZJBDT 001.2-2025
团体标准
本文件描述了磁随机存储芯片存储性及可靠性测试方法的术语、测试要求、测试设备、测试条件、测试程序等。本文件适用于实现磁随机存储芯片的存储性及可靠性验证。
浙江大学、浙江驰拓科技有限公司、联芸科技（杭州）股份有限公司、深圳市思恩技术有限公司、杭州华澜微电子股份有限公司、杭州电子科技大学、深圳市普科技术有限公司、杭州加速科技有限公司
程志渊、黄平洋、刘晨曦、杨吉龙、丁勇、何世坤、李国阳、方盼、骆建军、谭建新、邬刚
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| T/ZJBDT 001.3-2025 | 新型非易失性存储芯片（磁随机存储芯片、相变存储芯片、阻变存储芯片）存储性及可靠性测试方法 第3部分：相变存储芯片测试 | 现行 | 2025-01-10 | 2025-01-10 |
| T/ZJBDT 001.4-2025 | 新型非易失性存储芯片（磁随机存储芯片、相变存储芯片、阻变存储芯片）存储性及可靠性测试方法 第4部分：阻变存储芯片测试 | 现行 | 2025-01-10 | 2025-01-10 |
| T/QGCML 4423-2024 | 车规级存储控制芯片 | 现行 | 2024-07-12 | 2024-07-27 |
| T/BFIA 007-2021 | 金融安全芯片中央处理器安全技术规范 | 现行 | 2021-12-02 | 2021-12-02 |
| GM/T 0008-2012 | 安全芯片密码检测准则 | 现行 | 2012-11-22 | 2012-11-22 |
| T/CIE 126-2021 | 磁随机存储芯片测试方法 | 现行 | 2021-12-23 | 2022-02-10 |
| T/CIE 134-2022 | 磁随机存储芯片数据保持时间测试方法 | 现行 | 2022-08-10 | 2022-08-10 |
| T/QGCML 585-2022 | LED芯片技术规范 | 现行 | 2022-12-26 | 2023-01-03 |
| T/BDT 003-2024 | 高速模拟数字转换芯片（ADC）测试设备 | 现行 | 2024-10-09 | 2024-10-10 |
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| GB/T 44831-2024 | 皮肤芯片通用技术要求 | 现行 | 2024-10-26 | 2024-10-26 |
| CJ/T 306-2009 | 建设事业非接触式CPU卡芯片技术要求 | 现行 | 2009-05-19 | 2009-10-01 |
| GB/T 36613-2018 | 发光二极管芯片点测方法 | 现行 | 2018-09-17 | 2019-01-01 |
| GB/T 28856-2012 | 硅压阻式压力敏感芯片 | 现行 | 2012-11-05 | 2013-02-15 |
| T/ZJBDT 001.3-2025 | 新型非易失性存储芯片（磁随机存储芯片、相变存储芯片、阻变存储芯片）存储性及可靠性测试方法 第3部分：相变存储芯片测试 | 现行 | 2025-01-10 | 2025-01-10 |