透射电子显微镜校准方法

Calibration methods for transmission electron microscope

T/CSTM 00162-2020科学研究和技术服务业

现行

更新日期:2026-03-30

标准状态

发布日期

2020-03-23

实施日期

2020-06-23

基础信息

标准号

T/CSTM 00162-2020

包含专利

否

标准分类

中国标准分类号

A 50

国际标准分类号

17.020

标准层级

团体标准

主要技术内容

本部分规定了透射电镜校准方法的术语和定义、概述、计量特性、校准条件、校准项目和校准方法、测量结果不确定度评定、校准结果表达和复校时间间隔。本标准适用于透射电镜放大倍率、样品污染率和样品漂移率的校准。

起草单位

中国计量科学研究院、河南科技大学、中南大学、北京市理化分析测试中心、国家石墨烯产品质量监督检验中心(江苏)、中国科学院化学研究所、国家纳米科学中心、深圳市电源技术学会、深圳石墨烯创新中心有限公司

起草人

李旭、任玲玲、张毅、梁霄鹏、雷前、刘伟丽、范文浩、刘哲、刘渊、关波、齐笑迎、苏春华、张瑞芳、孙威

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