半导体器件可靠性强化试验方法

Reliability enhancement test of semiconductor devices

T/CIE 144-2022信息传输、软件和信息技术服务业

现行

更新日期:2026-09-12

标准状态

发布日期

2022-12-31

实施日期

2023-01-31

基础信息

标准号

T/CIE 144-2022

团体名称

中国电子学会

包含专利

标准分类

国际标准分类号

31.020

行业分类

I659 其他信息技术服务业

标准层级

团体标准

主要技术内容

本文件规定了半导体器件可靠性强化试验方法,并规定了半导体器件强化试验的一般步骤、相关要求、方法及参数监测等。本文件适用于半导体分立器件、集成电路、微波器件的可靠性强化试验指导。

起草单位

工业和信息化部电子第五研究所、航空工业第一飞机设计研究院

起草人

杨少华、颜佳辉、薛海红、牛皓、刘昌、王铁羊、吕宏峰、来萍、许少辉、赖灿雄、陈希宇、廖文渊、柳月波

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