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非易失性相变存储器电性能测试方法

Measuring methods of electrical properties for non-volatile phase change memory

T/CIE 155-2023信息传输、软件和信息技术服务业

现行

更新日期：2026-09-12

标准状态

发布日期

2023-03-20

实施日期

2023-03-20

基础信息

标准号

T/CIE 155-2023

团体名称

中国电子学会

包含专利

否

标准分类

国际标准分类号

31.200

行业分类

I6550 信息处理和存储支持服务

标准层级

团体标准

主要技术内容

本文件规定了相变存储器件单元的电性能测试方法，分为器件性能测试和器件可靠性测试，器件性能测试包括电流-电压特性、存储窗口、置位时间、置位电压、复位时间、复位电压、功耗；器件可靠性测试包括耐久和数据保持时间。本文件适用于相变存储器件单元（以下简称器件）。

起草单位

华中科技大学、长江存储科技有限责任公司、中国计量科学研究院、中国电子技术标准化研究院

起草人

缪向水、何强、童浩、程晓敏、徐明、刘峻、李硕、任玲玲、李锟

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