主要技术内容
本文件规定了相变存储单元器件的电性能测试方法，分为器件性能测试和器件可靠性测试，器件性能测试包括电流-电压特性、存储窗口、置位时间、置位电压、复位时间、复位电压、功耗；器件可靠性测试包括耐久性和数据保持时间。本文件适用于相变存储单元器件（以下简称器件）。
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Measurement methods for electrical properties of phase change memory
现行
2023-03-07
2023-06-07
T/CSTM 01003-2023
中关村材料试验技术联盟
否
L 56
31.200
C397 电子器件制造
团体标准
本文件规定了相变存储单元器件的电性能测试方法，分为器件性能测试和器件可靠性测试，器件性能测试包括电流-电压特性、存储窗口、置位时间、置位电压、复位时间、复位电压、功耗；器件可靠性测试包括耐久性和数据保持时间。 本文件适用于相变存储单元器件（以下简称器件）。
本文件规定了相变存储单元器件的电性能测试方法，分为器件性能测试和器件可靠性测试，器件性能测试包括电流-电压特性、存储窗口、置位时间、置位电压、复位时间、复位电压、功耗；器件可靠性测试包括耐久性和数据保持时间。本文件适用于相变存储单元器件（以下简称器件）。
华中科技大学、长江存储科技有限责任公司、中国计量科学研究院、中国电子技术标准化研究院
缪向水、何强、童浩、程晓敏、刘峻、李硕、任玲玲、李锟。
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