硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法

Test method for sheet resistance of silicon epitaxial, diffused and ion-implanted layers using a collinear four-probe array

GB/T 14141-2009推荐性国家标准

现行

相似
更新日期:2026-03-08

标准状态

发布日期

2009-10-30

实施日期

2010-06-01

基础信息

标准分类

中国标准分类号

H80

国际标准分类号

29.045

标准层级

国家标准

GB/T 14141-2009 相关专题

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