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半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法

Discrete semiconductor devices and integrated circuits--Part 5-3:Optoelectronic devices--Measuring methods

GB/T 15651.3-2003推荐性国家标准

现行

更新日期：2026-02-20
半导体分立器件集成电路电子器件

标准状态

发布日期

2003-11-24

实施日期

2004-08-01

基础信息

标准号

GB/T 15651.3-2003

批准发布部门

工业和信息化部（电子）

发布部门

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局

技术归口

工业和信息化部（电子）

是否采用国际标准

该标准采用国际标准

标准分类

中国标准分类号

L50

国际标准分类号

31.260

标准层级

国家标准

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