硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法

Test method for measuring surface metal contamination on silicon wafers by total reflection X-Ray fluorescence spectroscopy

GB/T 24578-2015推荐性国家标准

废止

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更新日期:2026-08-08

标准状态

发布日期

2015-12-10

实施日期

2017-01-01

基础信息

标准分类

中国标准分类号

H17

国际标准分类号

77.040

标准层级

国家标准

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